GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法

GB/T 17722-1999 Gold-plated thickness measurement by SEM

国家标准 中文简体 现行 页数:6页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 17722-1999
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
1999-04-11
实施日期
1999-12-01
发布单位/组织
国家质量技术监督局
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
-

发布历史

研制信息

起草单位:
中国科学院北京科仪研制中心、地矿部矿床地质研究所、北京科技大学材料物理系、上海市测试技术研究院、中船总725所
起草人:
陆亚伟、周剑雄、柳得橹、张训彪、徐国照
出版信息:
页数:6页 | 字数:10 千字 | 开本: 大16开

内容描述

疡8

中华人民共和国国家标准

GB/T17722-1999

金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法

Gold-platedthicknessmeasurementbySEM

1999一04一11发布1999一12一01实施

国家质二量技险监督局发布

Gs/T17722-1999

前言

目前市场出售的黄金制品名目繁多,常见的有镀金、包金、锻压金以及各种表层镀有黄金与白银的

混合镀层的金制品,此外,一些K金饰品也在外面镀覆纯金或K金,一些白金饰品的表面覆盖有各种贵

金属的镀层,而且用上述方法制成的饰品或工艺品种类十分繁多,面对如此繁多的饰品和工艺品的质量

监测是一个极大的问题。

本方法提出的对金覆盖层厚度的直接测量方法,用扫描电镜从金饰品的断面上直接测定其覆盖层

的成分、覆盖层的层数和各层的厚度等,对于评价上述各类金制品的质量将具有十分重要的意义。

本标准的附录A是提示的附录。

本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。

本标准起草单位:中国科学院北京科仪研制中心、地矿部矿床地质研究所、北京科技大学材料物理

系、上海市测试技术研究院、中船总725所。

本标准主要起草人:陆亚伟、周剑雄、柳得槽、张训彪、徐国照。

中华人民共和国国家标准

金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法GB/T17722-1999

Gold-platedthicknessmeasurementbySEM

范围

本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子

探针仪测量金覆盖层厚度,适用的厚度测量范围为。.2^10mu,

其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。

2引用标准

下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均

为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨、使用下列标准最新版本的可能性。

GB/T12334-1990金属及其他无机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则

GB/T13298-1991金属显微组织检测方法

GB/T15616-1991金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法

GB/T16594-1996微米级长度的扫描电镜测量方法

GB/T17362-1998黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法

GB/T17363-1998黄金制品的电子探针测定方法

术语

局部厚度在基本测量面内对某一部位测定的厚度值。

平均厚度

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