适用范围：本标准规定了激光共聚焦显微拉曼光谱仪的术语和定义、仪器结构、技术要求、测试方法等。 本标准适用于以连续激光为激发光源，具有单级、二级或三级光谱仪的色散型共聚焦显微拉曼光谱仪（以下简称仪器)。 本标准不适用于傅立叶变换拉曼光谱仪等非色散型拉曼光谱仪和基于脉冲激光光源的拉曼光谱仪。

适用范围：本标准规定了利用SEM和EDX分析单壁碳纳米管粗产品及纯化后粉末或薄膜产品的形态、元素组成、催化剂和其他无机杂质的测试方法。 本标准适用于单壁碳纳米管的特性分析，亦可用于多壁碳纳米管（multiwall carbon nanotubes，简称MWCNTs）的特性分析。

适用范围：本标准规定了几何光学的基本术语，以及与几何光学成像、光学系统的光束限制、几何像差、几何光学成像基本元件及典型光学系统等相关的术语、定义和符号。本标准适用于光学系统设计，以及与几何光学相关的标准制定、技术文件编制、教材和各类出版物编纂。注： 术语方括号［ ］内的词可省略；圆括号（）内的词除作为说明外，还作为可替换的词。

适用范围：本标准规定了航天器发射平台基准信息的测量中使用的方位垂直传递装置的通用技术要求、检验规则、交货准备要求以及主要性能检验方法。 本标准适用于航天器发射平台基准信息的测量中使用的方位垂直传递装置的设计、生产、试验和验收。

适用范围：本标准规定了飞行器靶场跟踪测试试验中使用的光电跟踪测量设备的通用技术要求、检验规则、交货准备要求以及主要性能试验方法。 本标准适用于飞行器靶场跟踪测试试验中使用的光电跟踪测量设备的设计、生产、试验和验收。 注： 在本标准中不发生歧义的情况下光电跟踪测量设备简写为设备。

适用范围：本标准规定了通用比色箱的结构、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和储存。本标准适用于目视颜色评价时，所需标准视觉环境的设备。

适用范围：GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法，但不拟用于规定镀制方法。本部分规定了光学薄膜的使用条件分类，并确定了为证明光学薄膜满足技术要求所需要进行的环境试验。试验的术语和范围已在ISO 90221中给出。本部分不适用于眼科光学（眼镜）的光学薄膜。

适用范围：GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法，但不拟用于规定镀制方法。本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法，这些方法在GB/T 12085-2010标准中没有描述。这些方法通常与GB/T 26332.3-2015附录A中的测试方法组成试验序列共同使用。本部分不适用于眼科光学（眼镜）的光学薄膜。

适用范围：GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法，但不拟用于规定镀制方法。本部分规定了如何表述光学薄膜的光学特性以及如何图示其光谱特性。本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。

适用范围：本标准规定了光学经纬仪的术语和定义、等级及基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于DJ07，DJ1，DJ2，DJ6，DJ30光学经纬仪（以下简称仪器），其他类型的经纬仪也可参照使用。

适用范围：本标准规定了色散型高光谱遥感器实验室光谱定标的设备条件和实验方法。 本标准适用于工作波段为0.4 μm～2.5 μm的色散成像型（如滤光片型、光栅衍射型、棱镜色散型）机载/星载高光谱遥感器的实验室光谱定标。其他色散型遥感器的实验室光谱定标可参照使用。

适用范围：本标准规定了单壁碳纳米管的透射电子显微术表征形貌的方法，及识别单壁碳纳米管样品中其他材料元素组成的能谱法。 本标准适用于检测单壁碳纳米管的基本结构，包括形貌、缺陷、直径分布、管束大小和取向、结晶情况，以及元素组分和手性分析等。

适用范围：本标准规定了星敏感器通用技术要求、检验规则、标志、包装、装箱、运输和贮存。 本标准适用于星敏感器的设计、制造、检验、验收、运输及贮存。

适用范围：本标准规定了对功率范围为0.1 mW～100 mW的激光小功率计（简称仪器）性能检测的方法。 本标准适用于0.1 mW～100 mW激光小功率计的研制和生产检验，其他功率范围的激光功率测试仪器也可参考使用。

适用范围：本标准规定了全站仪的等级及基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于全站仪（以下简称仪器）。

适用范围：本标准规定了采用光纤模拟手段检测脉冲激光测距仪测距参数的室内测试方法。 本标准适用于脉冲激光测距仪测距参数的测定和验收。

适用范围：本标准规定了应用在光学系统内的多光谱减反射膜膜层的分类、要求、试验方法及检验规则。 本标准适用于在硒化锌、硫化锌等红外晶体上镀制多光谱减反射膜。

适用范围：本标准规定了有关测距仪、水准仪、经纬仪等大地测量仪器以及在军事地形测量、地质测量、平面测量和工程测量中使用的部件的术语和定义。而与摄影测量法，天文学，水文测量及工业测量有关的术语除外。 本标准不适用于与仪器功能无关的部件。本术语按英文字母顺序排列。

适用范围：本标准规定了光学仪器用透明导电薄膜的分类、要求、试验方法及检验规则。 本标准适用于在光学玻璃上镀制全介质透明导电薄膜。

适用范围：本标准规定了以电子束为激发源的俄歇电子能谱（AES，Auger Electron Spectroscopy）的一般表面分析方法。 本标准适用于俄歇电子能谱仪。