适用范围：本文件规定了星敏感器通用技术要求、检验规则、交货准备。 本文件适用于星敏感器的设计、制造、检验、验收、运输及贮存。

适用范围：本文件描述了使用拉曼光谱法测量MoS2薄片层数的方法。 本文件适用于面内尺寸大于或等于2 μm的2H堆垛的本征MoS2薄片的层数测量。

适用范围：本文件规定了在0.78 μm～25 μm红外光谱范围内使用的光学材料的命名、特性以及表征该类材料的性能参数，描述了这些性能参数相应的测试方法。 本文件适用于无源光学元件所用红外材料的表征与测试。也能用于其他光谱波段（如微波、可见光或紫外波段）的表征与测试。

适用范围：本文件界定了光学薄膜相关术语和定义。术语分为3类：基本术语和定义、功能性薄膜的术语和定义、常见的薄膜缺陷术语和定义。 本文件适用于在光学元器件及基底表面镀制的光学薄膜。 本文件不适用于眼科光学（眼镜）方面的光学薄膜。

适用范围：本文件描述了工作在0.1 nm～121 nm波段的软X射线-极紫外空间成像仪器的实验室检测与定标试验项目及试验方法，规定了试验环境和试验设备的要求。 本文件适用于软X射线-极紫外光谱范围内的空间成像仪器的实验室检测与定标。

适用范围：本文件规定了遥感器定标用积分球光源测试的一般要求、测试项目和方法、测试检查以及测试报告。本文件适用于通过内置或外部引入，输出波长范围在紫外至短波红外波段（350 nm～2 500 nm)，出光口直径大于或等于100 mm，用于遥感器辐射定标的、具有连续光谱的积分球［光源］测试，其他积分球［光源］测试参照执行。

适用范围：本文件规定了可见光波段范围内工作的月球与行星原位探测相机的功能指标、性能指标、环境适应性等技术要求，描述了对应的测试及试验方法。本文件适用于可见光波段范围内工作的月球与行星原位探测相机的设计、测试及试验研制过程。紫外和红外波段下的月球与行星原位探测相机研制参照使用。

适用范围：本文件描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法。本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。本文件也适用于在样品制备满足透射电子显微镜观察要求时的胶体和生物组织中纳米颗粒粒径测量。

适用范围：本文件规定了减反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的减反射膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件规定了金属反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的基于铝或银的金属反射膜。本文件既满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件规定了中性分束膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的中性分束膜。本文件既能满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也能使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件规定了激光光学用薄膜的光学性能尤其是激光功率承载能力、机械性能、化学耐受性和环境适应性等方面的基本要求。本文件适用于激光领域应用的光学薄膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件规定了使用拉曼光谱测量石墨烯相关二维材料的层数的方法。 本文件适用于利用机械剥离法制备的、横向尺寸不小于2 μm的石墨烯薄片的层数测量。化学气相沉积（CVD: chemical vapor deposition)法制备的以AB堆垛或ABC堆垛的石墨烯薄片可参照本方法执行。 注1： 测量石墨烯薄片的层数时，可单独或者综合几种方法联合测量并相互验证。 注2： 第5章给出了基于2D模的线型（A法)。第6章给出了基于SiO2/Si衬底的硅拉曼模峰高（B法)进行石墨烯薄片层数测量的拉曼光谱法。附录A给出了拉曼光谱法测量石墨烯薄片层数的各种方法概要一览表。附录B给出了基于石墨烯薄片G模的峰高（C法)进行石墨烯薄片层数测量的拉曼光谱法。

适用范围：本标准规定了用于拉曼光谱校准的频移校正值的校准条件和校准方法。本标准适用于以连续激光为激发光源，具有单级、二级或三级光栅的色散型拉曼光本标准规定了用于拉曼光谱校准的频移校正值的校准条件和校准方法。 本标准适用于以连续激光为激发光源，具有单级、二级或三级光栅的色散型拉曼光谱仪的日常校准。 本标准不适用于傅里叶变换拉曼光谱仪等非色散型拉曼光谱仪。谱仪的日常校准。本标准不适用于傅里叶变换拉曼光谱仪等非色散型拉曼光谱仪。

适用范围：本标准规定了电子经纬仪产品系列的术语和定义、等级及基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。本标准适用于等级为1″、2″、5″及10″电子经纬仪(以下简称仪器)。

适用范围：GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法，但不拟用于规定镀制方法。GB/T 26332不适用于眼科光学（眼镜）的光学薄膜。GB/T 26332的本部分界定了光学薄膜的相关术语，包括基本定义、按功能定义薄膜、常见的薄膜缺陷定义、其他术语和定义。

适用范围：本标准规定了拉曼频移校准曲线的术语和定义、校准条件、拉曼频移校准和不确定度评定。 本标准适用于拉曼光谱仪（以下简称仪器）的拉曼频移校准。

适用范围：本标准规定了采用电子显微镜高角环形暗场成像技术对贵金属纳米颗粒成像的方法。本标准适用于单一贵金属纳米颗粒和复合材料中贵金属纳米颗粒的成像。

适用范围：本标准规定了激光共聚焦显微拉曼光谱仪的术语和定义、仪器结构、技术要求、测试方法等。 本标准适用于以连续激光为激发光源，具有单级、二级或三级光谱仪的色散型共聚焦显微拉曼光谱仪（以下简称仪器)。 本标准不适用于傅立叶变换拉曼光谱仪等非色散型拉曼光谱仪和基于脉冲激光光源的拉曼光谱仪。

适用范围：本标准规定了利用SEM和EDX分析单壁碳纳米管粗产品及纯化后粉末或薄膜产品的形态、元素组成、催化剂和其他无机杂质的测试方法。 本标准适用于单壁碳纳米管的特性分析，亦可用于多壁碳纳米管（multiwall carbon nanotubes，简称MWCNTs）的特性分析。