国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：GB/T 32526-2016 General specification for the equipment of passing azimuth angle vertically适用范围：本标准规定了航天器发射平台基准信息的测量中使用的方位垂直传递装置的通用技术要求、检验规则、交货准备要求以及主要性能检验方法。 本标准适用于航天器发射平台基准信息的测量中使用的方位垂直传递装置的设计、生产、试验和验收。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2016-02-24 | 实施时间： 2016-09-01收藏 -
现行
译：GB/T 32525-2016 General specification for photoelectric tracking and measuring equipment适用范围：本标准规定了飞行器靶场跟踪测试试验中使用的光电跟踪测量设备的通用技术要求、检验规则、交货准备要求以及主要性能试验方法。 本标准适用于飞行器靶场跟踪测试试验中使用的光电跟踪测量设备的设计、生产、试验和验收。 注： 在本标准中不发生歧义的情况下光电跟踪测量设备简写为设备。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2016-02-24 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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现行
译：GB/T 15247-2008 Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Guidelines for determining the carbon content of steels using calibration curve method适用范围：本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢（其他合金元素质量分数小于2%）中碳含量的校正曲线法。本标准包含试样制备、X射线检测、校正曲线建立以及碳含量检测不确定度的评估。本标准适用于测定碳的质量分数小于1%的钢中碳含量，当含碳量高于1%时检测准确度会受到很大的影响，不适用于本标准。 本标准适用于垂直入射方式和波谱仪，不适用能谱仪。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2008-08-20 | 实施时间： 2009-04-01收藏
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现行
译：GB/T 19500-2004 General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2004-04-30 | 实施时间： 2004-12-01收藏
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废止
译：GB/T 15245-2002 Quantitative analysis of rare earth element(REE)oxides by electron probe microanalysis(EPMA)【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 18873-2002 General specification of transmission electron microscope(TEM)—X-ray energy dispersive spectrum(EDS) quantitative microanalysis for thin biological specimens【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15244-2002 Quantitative analysis of glass by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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现行
译：GB/T 15617-2002 Quantitative analysis of silicate minerals by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15247-1994 Electron probe quantitative analysis method of carbon in carbon steel and low alloy steel—Sensitivity curve method (detection limit method)【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-10-17 | 实施时间： 1995-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15074-1994 General guide for EPMA quantitative analysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-05-09 | 实施时间： 1994-12-01收藏
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废止
译：GB/T 15075-1994 Method for testing EPMA instrument【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-05-09 | 实施时间： 1994-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 4930-1993 General specification of electron probe microanalysis standard specimen【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-08-30 | 实施时间： 1994-07-01收藏
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废止
被代替
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废止
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