适用范围：本文件规定了气相色谱法测定电石渣中乙炔含量的方法原理、试剂和材料、仪器设备、样品、试验步骤、检出限、精密度和试验报告。本文件适用于湿法乙炔工艺电石渣中乙炔含量的测定。干法乙炔工艺电石渣中乙炔含量的测定可参考执行。

适用范围：本文件规定了聚氯乙烯为主的混合料，通过双辊开炼机塑炼，测定不同塑炼时间下系列聚氯乙烯试样外观颜色变化的动态热稳定性试验方法。 本文件适用于测定聚氯乙烯(SG3、SG5、SG7、SG8型)的动态热降解阻力，通过规定温度范围内不同塑炼时间的试样外观颜色变化来评价其热稳定性。本体法生产的通用型聚氯乙烯树脂不适用本文件。

适用范围：本文件规定了水合肼、ADC发泡剂行业清洁生产的评价指标体系、评价方法、指标解释与数据来源。 本文件适用于以酮连氮法或尿素法生产水合肼、以尿素法或尿素法提纯水合肼生产ADC发泡剂企业清洁生产的评价。

适用范围：本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。

适用范围：本文件描述了用于最高等级几何量测量的扫描探针显微镜（SPM）扫描轴的表征和校准方法，适用于提供进一步校准的测量系统，而不适用于校准等级需求较低的一般工业应用。 本文件旨在： ——通过对长度单位溯源，提高SPM几何量测量结果的可比性； ——明确校准程序及验收条件的最低要求； ——确认被校准仪器的能力（赋予仪器“校准能力”所属的类别）； ——规定校准的范围（测量及环境条件、测量范围、时间稳定性、通用性）； ——根据ISO/IEC Guide 98-3，提供模型来计算SPM测量中简单几何量的不确定度； ——规定报告结果的要求。

适用范围：本文件界定了表面化学分析中通用术语和谱学领域中的术语，附录A给出了非表面分析专业的部分常用术语。

适用范围：本文件给出了在数据表、分析证书、涉及制备用于表面化学分析时纳米物体处理的报告或其他出版物中应报告的信息。这些信息对于确保促进应用这些材料的研究和技术所需的分析可靠性和再现性是必需的，并获得对可能的纳米物体环境和生物影响的恰当理解。这些信息除了其他与样品的合成、加工历史及表征有关的详细资料外，并宜成为有关材料来源和其自产生以来发生的变化的数据记录（有时被确认为源信息）的一部分。 本文件包括了资料性附录。附录总结了与纳米物体相关的挑战性问题，强调了需要在材料数据记录中加强文件化和报告（见附录A）,并提供了通常从用于表面化学分析的溶液中提取颗粒的方法示例（见附录B）。相关样品数据的示例集展示于附录C。 本文件未规定确保所描述的分析测量得到恰当实施所需的仪器类型或操作程序。

适用范围：范围:本文件规定了利用Rietveld全谱拟合法（简称全谱拟合法）测量氧化锆中各相（立方、四方、单斜）含量的术语和定义、方法原理、仪器和测量条件、样品、实验步骤、结果与计算等。 本文件适用于氧化锆固体电解质粉体中立方、四方和单斜相的定量分析; 主要技术内容:本文件规定了利用Rietveld全谱拟合法（简称全谱拟合法）测量氧化锆中各相（立方、四方、单斜）含量的术语和定义、方法原理、仪器和测量条件、样品、实验步骤、结果与计算等

适用范围：本文件描述了采用辉光放电质谱法（GDMS)测量锗酸铋（BGO)晶体中杂质元素的方法。本文件适用于BGO晶体材料中除氢和惰性气体元素以外的其他杂质元素含量的测定，测定范围为0.001 μg/g~1 000 μg/g（质量分数)。通过合适的标准样品校正，也适用于测量质量分数大于1 000 μg/g的杂质元素含量。

适用范围：本文件界定了表面化学分析领域扫描探针显微术方面的术语，并给出了相关缩略语清单(见附录A)。 本文件适用于表面化学分析中扫描探针显微术相关的教学、科研、设计、制造、编写相关技术文件和书刊及技术交流。

适用范围：本文件描述了五种原子力显微术探针悬臂梁法向弹性常数的测量方法，测量的精度误差为5%~10%。每个方法分别隶属于尺寸法、静态实验法和动态实验法三类方法中的一种。方法的选择取决于分析所要达到的目的，便易性及现有的仪器条件。 本文件不适用于高于5%～10%的测量精度，如要获得高于5%~10%的测量精度，需要使用本文件未提及的更高精度的方法进行测量。

适用范围：本文件描述了分析人员利用全反射X射线荧光(TXRF)仪器开展水样测量的化学方法。根据良好的操作实践，本方法具有确定的准确度和精密度。本文件适用于开展大量样品常规分析且按照ISO/IEC 170251)运作的实验室。 本文件描述了水(例如，饮用水、地表水、地下水)中溶解性元素含量的测定方法。考虑到特定和额外发生的干扰，按照本方法也能测定废水和洗脱液中的元素。本文件不包括采样、稀释和预浓缩方法。 本方法能测定的元素会随着仪器X射线源的改变而发生变化。本文件未涉及健康、安全和商业因素。 测量范围取决于样品基体和遇到的干扰。对于饮用水和相对未被污染的水，大多数元素的定量限介于0.001 mg/L~0.01 mg/L。测量范围通常介于0.001 mg/L~10 mg/L的浓度区间，取决于测量元素和预先设定的要求。 附录B给出了钼靶X射线源、Ga作为校准内标时的TXRF分析水样的完整方法验证示例。 大多数元素的定量限会受到空白污染的影响，且主要依赖于所使用的实验室空气处理设施以及试剂的纯度和实验器具的清洁程度。

适用范围：本文件描述了用氩气吸附静态容量法测定石墨烯粉体比表面积的方法。 本文件适用于测定具有Ⅱ型(分散的、无孔或大孔)和Ⅳ型(介孔，孔径2 nm~50 nm)吸附等温线的石墨烯粉体的比表面积。含有少量微孔、吸附等温线呈现出Ⅱ型和Ⅰ型相结合或Ⅳ型和Ⅰ型相结合的石墨烯粉体的比表面积测定亦适用。其他类型的碳基纳米材料，如碳纳米管、碳纤维、多孔炭等比表面积的测定参照使用。

适用范围：本文件提供了非均相分离单元实现机械化、自动化操作的技术指导方案。本文件适用于化工行业中的非均相分离单元及该单元操作过程所用设备的机械化、自动化改造与设计方案的确定。

适用范围：本文件提供了输送单元实现机械化、自动化操作的技术指导方案。本文件适用于化工行业物料的输送单元及该单元操作过程所用设备的机械化、自动化改造与设计方案的确定。

适用范围：本文件提供了混合单元实现机械化、自动化操作的技术指导方案。本文件适用于化工行业混合单元及该单元操作过程所用设备的机械化、自动化改造与设计方案的确定。