国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
-
现行
译：T/ZGTXXH 085-2023 Calculate Product Advancement Evaluation Specification: Part 1: AI Chip Advancement Evaluation Metrics and Evaluation Methods适用范围：主要技术内容:1 范围2 规范性引用文件3 术语和定义4 缩略语5 评估测试方案概述5.1 评估测试框架5.1.1网络框架5.1.2 应用场景5.2 评估测试对象5.3 评估测试原则5.4 评估测试环境6 评估测试指标和方法6.1 评估测试方法概述6.1.1材料检查6.1.2技术评估测试6.2 测试模式6.2.1 封闭式训练6.2.2 封闭式推理6.2.3 开放式训练6.2.4 开放式推理6.3 测试场景6.3.1 图像分类6.3.2 目标检测6.3.3 自然语言处理6.3.4 大模型计算6.4 芯片先进性指标和评估方法6.4.1. 芯片基础算力性能6.4.2. 芯片数据计算效率6.4.3. 芯片加速协同能力6.4.4. 芯片能效6.4.5. 芯片安全计算效率6.4.6 芯片灵活适配性6.5 评分方法【国际标准分类号(ICS)】 ：35.200接口和互连设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2023-12-11 | 实施时间： 2023-12-11收藏 -
现行
译：T/CIE 092-2020 Spin-transfer torque magnetic random access memory testing method适用范围：主要技术内容:本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-Transfer Torque Magnetic Random Access Memory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路【国际标准分类号(ICS)】 ：35.220.01数据存储设备综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2020-12-21 | 实施时间： 2021-01-25收藏