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T/CIE 092-2020 自旋转移矩磁随机存储器测试方法

T/CIE 092-2020 Spin-transfer torque magnetic random access memory testing method

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/CIE 092-2020
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L56 半导体集成电路
国际标准分类号（ICS）
35.220.01 数据存储设备综合
发布日期
2020-12-21
实施日期
2021-01-25
发布单位/组织
-
归口单位
中国电子学会
适用范围
主要技术内容:本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-Transfer Torque Magnetic Random Access Memory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路

发布历史

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研制信息

起草单位：
北京航空航天大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、上海佑磁信息科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司
起草人：
赵巍胜、彭守仲、曹凯华、王昭昊、聂天晓、史可文、王佑、邓尔雅、王戈飞、 陈燕宁、付振、潘成、刘芳、卢辉
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

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