-
现行
译：SJ/T 1477-2016
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.30三极管
【中国标准分类号(CCS)】 ：L42半导体三极管
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01
-
现行
译：SJ/T 11586-2016 The method for testing the total radiation exposure of semiconductor devices to 10KeV low-energy X-rays
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01
-
现行
译：SJ/T 2749-2016 SJ/T 2749-2016 Semiconductor laser diode test method
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01
-
现行
译：SJ/T 2658.4-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods - Part 4: Total Capacitance
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.1-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods - Part 1: General Rules
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.10-2015 SJ/T 2658.10-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 10: Modulation Bandwidth
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.9-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 9: Spatial Distribution of Radiation Intensity and Half-Power Beam Angle
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.6-2015 Semiconductor Infrared Emitter Diode Measurement Methods - Part 6: Radiated Power
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.5-2015 SJ/T 2658.5-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 5: Series Resistance
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.3-2015 SJ/T 2658.3-2015 Semiconductor infrared emitting diode measurement methods Part 3: Reverse voltage and reverse current
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.12-2015 SJ/T 2658.12-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 12: Peak Emission Wavelength and Spectral Radiation Bandwidth
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.13-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 13: Radiated Power Temperature Coefficient
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.7-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 7: Radiant Flux
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.8-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 8: Radiant Intensity
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.11-2015 Measurement methods for semiconductor infrared emitting diodes - Part 11: Response time
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2658.2-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 2: Forward Voltage。
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01
-
现行
译：SJ/T 2214-2015 Testing methods for semiconductor photo-diodes and photo-transistors
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
-
现行
译：SJ/T 11486-2015 SJ/T 11486-2015 Small Power LED Chip Technical Specification
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
-
现行
译：SJ/T 2215-2015 Semiconductor photoelectric coupler testing method
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管
【中国标准分类号(CCS)】 ：L50/54光电子器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
-
现行
译：SJ/T 2216-2015 Silicon photodiode technology specification
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件
【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行
现行