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译：SJ/T 11845.2-2022 Electronic Component Reliability Evaluation Method Based on Low-frequency Noise Parameters - Part 2: Optoelectronic Coupling Devices
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L50/54光电子器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01
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译：SJ/T 11767-2020 SJ/T 11767-2020 Diode Low Frequency Noise Parameter Test Method
适用范围：适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2020-12-09 | 实施时间： 2021-04-01
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译：SJ/T 11766-2020 SJ/T 11766-2020 Optical coupler low frequency noise parameter testing method
适用范围：适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L50/54光电子器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2020-12-09 | 实施时间： 2021-04-01
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译：SJ/T 11586-2016 The method for testing the total radiation exposure of semiconductor devices to 10KeV low-energy X-rays
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01
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译：SJ/T 10053-1991 Detail specification for electronic components--Silicon NPN case rated bipolar transistor for low-frequency amplification for Type 3DD313
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L42半导体三极管
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1991-04-08 | 实施时间： 1991-07-01
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译：SJ/T 10052-1991 Detail specification for electronic components--Silicon PNP case rated bipolar transistor for low-frequency amplification for Type 3CD507
【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合
【中国标准分类号(CCS)】 ：L42半导体三极管
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1991-04-08 | 实施时间： 1991-07-01
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