SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
SJ/T 11767-2020 SJ/T 11767-2020 Diode Low Frequency Noise Parameter Test Method
行业标准-电子
简体中文
现行
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格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11767-2020
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2020-12-09
实施日期
2021-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
适用范围
适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试
发布历史
-
2020年12月
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研制信息
- 起草单位：
- 工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
- 起草人：
- 余永涛、胡为、恩云飞 等
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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