SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
SJ/T 11767-2020 SJ/T 11767-2020 Diode Low Frequency Noise Parameter Test Method
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11767-2020
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2020-12-09
实施日期
2021-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
适用范围
适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试
发布历史
-
2020年12月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- 工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
- 起草人：
- 余永涛、胡为、恩云飞 等
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 36668.3-2018 游乐设施状态监测与故障诊断 第3部分：红外热成像监测方法 2018-09-28
- YY 0055-2018 牙科学 光固化机 2018-09-28
- GB/T 36668.2-2018 游乐设施状态监测与故障诊断 第2部分：声发射监测方法 2018-09-28
- YY/T 0741-2018 数字化摄影X射线机专用技术条件 2018-09-28
- GB/T 36740-2018 商贸休闲区服务规范 2018-09-28
- GB/T 36721-2018 博物馆开放服务规范 2018-09-28
- GB/T 36736-2018 花卉休闲区建设与服务规范 2018-09-28
- YY/T 0322-2018 高频电灼治疗仪 2018-09-28
- YY/T 0573.2-2018 一次性使用无菌注射器 第2部分：动力驱动注射泵用注射器 2018-09-28
- GB/T 36737-2018 休闲绿道服务规范 2018-09-28