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SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11767-2020 SJ/T 11767-2020 Diode Low Frequency Noise Parameter Test Method

行业标准-电子 简体中文 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ/T 11767-2020
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L41 半导体二极管
国际标准分类号（ICS）
31.080.01 半导体器分立件综合
发布日期
2020-12-09
实施日期
2021-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
适用范围
适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试

发布历史

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研制信息

起草单位：
工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
起草人：
余永涛、胡为、恩云飞 等
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

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