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现行
译：SJ/T 11630-2016 SJ/T 11630-2016 Geometric Dimension Test Method for Silicon Substrates Used in Solar Cells
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01
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现行
译：SJ/T 11631-2016 The testing method for surface defects of silicon wafers used in solar cells
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01
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现行
译：SJ/T 11632-2016 Testing method for micro-crack defects in silicon wafers used in solar cells
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01
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现行
译：SJ/T 11628-2016 The online testing methods for silicon wafer size and electrical characterization for solar cells
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01
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现行
译：SJ/T 11629-2016 Online photoluminescence analysis method for silicon wafers and cell modules used in solar cells
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01
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现行
译：SJ/T 11627-2016 The online testing method for the resistivity of silicon wafers used in solar cells
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01
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废止
译：SJ/T 10627-1995 Test methods for oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1995-04-22 | 实施时间： 1995-10-01
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现行
译：SJ/T 10599-1994 Methods of measurement for telephone receivers
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：M72音响、电声设备
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1994-10-11 | 实施时间： 1995-04-01
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现行
译：SJ/T 10557.3-1994 Method for measurement of average dislocation density of Aluminium foil for electroytic capacitor
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：H20/29金属理化性能试验方法
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1994-08-08 | 实施时间： 1994-12-01
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现行
译：SJ/T 10557.2-1994 Method for texture measurement of Aluminium foil for high voltage electroytic capacitor
【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验
【中国标准分类号(CCS)】 ：L11电容器
发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1994-08-08 | 实施时间： 1994-12-01
现行
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废止
现行
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