YS/T 14-1991 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法
YS/T 14-1991 The method for measuring the thickness of the dopant-enriched epitaxial layer and the silicon eutectic layer
基本信息
标准号
YS/T 14-1991
标准类型
行业标准-有色金属
标准状态
废止
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1991-04-26
实施日期
1992-06-01
发布单位/组织
中国有色金属工业总公司
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1991年04月
-
2015年04月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- 起草人：
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 38784-2020 悬空地板、踏步、步道及栈道玻璃 2020-06-02
- GB/T 38785-2020 建筑用薄膜太阳能电池组件回收再利用通用技术要求 2020-06-02
- GB/T 38783-2020 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法 2020-06-02
- GB/T 38795-2020 汽车侧面气囊和帘式气囊模块性能要求 2020-06-02
- GB/T 38803-2020 钢丝绳失效分析规范 2020-06-02
- GB/T 38804-2020 金属材料高温蒸汽氧化试验方法 2020-06-02
- GB/T 38802-2020 游泳场所节水管理规范 2020-06-02
- GB/T 38801-2020 内容分发网络技术要求 互联应用场景 2020-06-02
- GB/T 38786-2020 镁及镁合金铸锭纯净度检验方法 2020-06-02
- GB/T 38794-2020 家具中化学物质安全 甲醛释放量的测定 2020-06-02