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YS/T 14-1991 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法

YS/T 14-1991 The method for measuring the thickness of the dopant-enriched epitaxial layer and the silicon eutectic layer

行业标准-有色金属 简体中文 废止 已被新标准代替，建议下载标准 YS/T 14-2015 | 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
YS/T 14-1991
标准类型
行业标准-有色金属
标准状态
废止
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1991-04-26
实施日期
1992-06-01
发布单位/组织
中国有色金属工业总公司
归口单位
-
适用范围
-

发布历史

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