T/SZECC 006-2026 碳化硅（SiC）功率半导体可靠性测试方法
T/SZECC 006-2026 The reliability testing method for power semiconductors made of silicon carbide (SiC)
团体标准
中文(简体)
现行
页数：0页
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格式：PDF
基本信息
标准号
T/SZECC 006-2026
标准类型
团体标准
标准状态
现行
发布日期
2026-06-30
实施日期
2026-06-30
发布单位/组织
-
归口单位
深圳市电子商会
适用范围
-
发布历史
-
2026年06月
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研制信息
- 起草单位：
- 华盛中标(北京)技术服务有限公司、杭州三海电子科技股份有限公司、广东省科学院工业分析检测中心、中国南水北调集团青海有限公司、霸州市金研技术服务有限公司
- 起草人：
- 海辉、施昌建、韩健健、杜娟、秦玉鑫、刘鑫培
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
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