SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
SJ/T 11706-2018 The testing method for field-programmable gate array (FPGA) based on semiconductor integrated circuits
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：29页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11706-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2018年02月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
- 起草人：
- 刘芳、尹航、胡海涛 等
- 出版信息：
- 页数：29页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
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