SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
SJ/T 11706-2018 The testing method for field-programmable gate array (FPGA) based on semiconductor integrated circuits
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：29页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11706-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2018年02月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等
- 起草人：
- 刘芳、尹航、胡海涛 等
- 出版信息：
- 页数：29页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- CB/T 3143-1999 插闩式弃锚器 1999-04-30
- CB/T 296-1999 鹅颈式通风筒 1999-04-30
- CB/T 3819-1999 板式止回阀 1999-04-30
- CB/T 3836-1999 船用中压圆弧顶杆式叶片马达 1999-04-30
- CB/T 3834-1999 船用中压双作用叶片泵 1999-04-30
- CB/T 3835-1999 船用高压横梁顶杆式叶片马达 1999-04-30
- QB/T 2432-1999 打字蜡纸衬纸 1999-05-06
- QB/T 1010-1999 陶瓷材料颜料真密度的测定 1999-05-06
- CB/T 3839-1999 船用高压双作用叶片泵 1999-04-30
- CB/T 3818-1999 索具螺旋扣 1999-04-30