SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
SJ/T 11492-2015 The determination of composition of phosphorus-gallium-arsenic wafers using photoluminescence method
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：7页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11492-2015
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2015-04-30
实施日期
2015-10-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2015年04月
研制信息
- 起草单位：
- 信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国科学院半导体研究所等
- 起草人：
- 李静、金鹏、何秀坤 等
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- HG/T 3241-1989 内孔涂层测厚仪技术条件 1989-02-28
- HB 5491-1991 航空用结构钢焊丝 1992-04-15
- JB/T 5406-1991 间接动作电测量记录仪可靠性要求与考核方法 1991-07-10
- GB/T 11019-1989 镀镍圆铜线 1989-03-31
- LD 87.5-1996 矿山提升系统安全技术检验规范 第五部分:防坠器的检验 1996-05-27
- DL/T 691-1999 高压架空送电线路无线电干扰计算方法 2000-02-24
- QJ 2260-1992 整体式固体火箭冲压发动机组件制造,验收通用技术条件 1992-02-25
- SJ/T 10203-1991 ＣＣＤ彩色单板应用电视摄像机测量方法 1991-05-28
- HB 4388-1989 模体组合冲模元件与组件技术条件 1989-07-12
- HB 3-25-1976 带垫的夹紧卡箍 1978-04-05