T/SZSA 034-2025 高速ESD&TVS保护类芯片测试规范
T/SZSA 034-2025 High-speed ESD & TVS protection chip test specifications
团体标准
中文(简体)
即将实施
页数:0页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
T/SZSA 034-2025
标准类型
团体标准
标准状态
即将实施
发布日期
2025-12-22
实施日期
2026-01-01
发布单位/组织
-
归口单位
深圳市半导体产业发展促进会
适用范围
本标准规定了 HDMI、USB 等主流高速接口的 TVS 选型参数(包括工作电压、极性、电容等),明确了不同接口类型的 TVS 选型依据,同时规定了高频电容、S 参数、瞬态过冲电压等关键指标的测试流程及设备校准规范(如 TRL 校准)。本标准适用于主流高速接口(如 HDMI、USB 接口)的 TVS 器件选型设计,以及高频电容、S 参数、瞬态过冲电压等关键指标的测试与设备校准工作,可为应用端降低接口设计难度、确保不同测试机构的测试数据可比性提供依据。
随着信息技术的飞速发展,HDMI、USB、Ethernet、PCIe 等高速接口已广泛应用于消费电子、汽车电子、工业控制等领域,数据传输速率从几 Gbps 向数十 Gbps 跃升。高速接口在提升信息交互效率的同时,其对静电放电(ESD)和浪涌(Surge)的敏感性显著增加,ESD&TVS 保护类芯片作为抵御瞬态干扰的核心器件,其性能直接影响电子设备的可靠性与信号完整性。
现有标准多聚焦于通用 TVS 器件的基础指标,对高速场景下的选型、高频测试方法(如矢量网络分析仪校准、眼图测试)覆盖不足,造成产业链上下游(芯片厂商、设备制造商、测试机构)技术对接成本高、产品兼容性差。
为解决上述问题,本标准统一 HDMI、USB 等主流高速接口的 TVS 选型参数(工作电压、极性、电容等),为不同接口类型提供明确的选型依据,降低应用端设计难度;明确高频电容、S 参数、瞬态过冲电压等关键指标的测试流程及设备校准规范(如TRL校准),确保不同测试机构的测试数据具有可比性;指导企业在电路布局、多级防护配合等方面进行科学设计,提升设备可靠性。
本标准的制定与实施,将有效解决高速 ESD&TVS 保护类芯片在选型和测试中存在的问题,推动行业技术标准化,助力电子设备向高速化、高可靠性方向发展,为产业链上下游提供统一的技术规范和合作基础
发布历史
-
2025年12月
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研制信息
- 起草单位:
- 深圳市晶扬电子有限公司、深圳市计量质量检测研究院、电子科技大学(深圳)高等研究院、南京工业职业技术大学-集成电路学院、深圳市半导体产业发展促进会、西北工业大学-微电子学院、深圳市南方硅谷半导体股份有限公司、深圳市金誉半导体股份有限公司、深圳深爱半导体股份有限公司、深圳大学-电子与信息工程学院、江苏信息职业技术学院-微电子学院、无锡科技职业学院-集成电路学院、深圳市智微智能科技股份有限公司、东莞平晶微电子科技有限公司、深圳市长运通半导体技术有限公司、深圳市志忠微电子有限公司、隼瞻科技(广州)有限公司、深圳市华南英才科技有限公司、深圳市依崇微电子科技有限公司、深圳市三一联光智能设备股份有限公司、芯创(天门)电子科技有限公司、深圳市德博微电子有限公司、锐石创芯(深圳)半导体有限公司、柯泰光芯(常州)测试技术有限公司、深圳市信展通电子股份有限公司、深圳市芯通康科技有限公司
- 起草人:
- 杜飞波、侯飞、高东兴、郑义、万里佳、李菀婷、董小雨、蔡纯、刘继芝、孙肖林、鲍恩忠、袁路平、冯溪渊、杜志华、顾岚雁、魏国栋、张晓、李昆华、黄玮、赵俊露、曹飞龙、陈冬山、葛柱、古成、洪育铠、张开明、陈海文、唐顺柏、冯白华、李强、秦波、林楷辉、田铮、周刚、谭超
- 出版信息:
- 页数:- | 字数:- | 开本: -
内容描述
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