SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 966-1975 Methods of measurement for reverse breakdown voltage of silicon switching diodes
行业标准-电子
中文(简体)
废止
页数：1页
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格式：PDF
基本信息
标准号
SJ 966-1975
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1975-07-26
实施日期
1976-06-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1975年07月
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研制信息
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- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
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