SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 966-1975 Methods of measurement for reverse breakdown voltage of silicon switching diodes
行业标准-电子
中文(简体)
废止
页数：1页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ 966-1975
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1975-07-26
实施日期
1976-06-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1975年07月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB3501/T 021-2023 园林景观福橘栽培技术规程 2023-12-27
- DB3501/T 016-2023 种猪引种技术规范 2023-11-21
- DB2304/T 067-2023 保护地番茄绿色生产技术规程 2023-12-15
- DB3501/T 024-2023 工业（产业）园区政务服务指南 2023-12-29
- DB3501/T 017-2023 闽式盘架（搓背）技术要求及服务规范 2023-12-18
- DB2304/T 068-2023 马铃薯绿色生产技术规程 2023-12-15
- DB2304/T 069-2023 油豆角绿色生产技术规程 2023-12-15
- DB3501/T 020-2023 七境茶采制技术规程 2023-12-27
- DB3501/T 018-2023 茉莉花气候品质等级评价 2023-12-18
- DB3501/T 019-2023 闽菜（福州菜）标准体系框架 2023-12-18