GB/T 42744-2023 微波电路电调衰减器测试方法

GB/T 42744-2023 Microwave circuit—Measuring methods for electrically controlled attenuator

国家标准中文简体现行页数：20页 | 格式：PDF

基本信息

标准号

GB/T 42744-2023

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L56 半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）

31.200 集成电路、微电子学

发布日期

2023-08-06

实施日期

2024-03-01

发布单位/组织

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

适用范围

本文件描述了微波电路类的电调衰减器主要电参数的测试方法。本文件适用于单片和混合集成的微波电调衰减器（以下简称衰减器)的相关电参数测试。

发布历史

2023年08月

GB/T 42744-2023　微波电路电调衰减器测试方法

当前标准现行 2023-08-06

文前页预览

研制信息

起草单位：: 成都亚光电子股份有限公司、安徽明洋电子有限公司、安徽省中智科标准化研究院有限公司、空军装备部驻成都地区军事代表局、中国电子技术标准化研究院

起草人：: 隆慧、杨晓瑜、刘影影、陈敏、汤朔、周俊、孟泽、何亚平、范富宏、刘峋、王昊、付江蔚、侯林

出版信息：: 页数：20页 | 字数：34 千字 | 开本：大16开

内容描述

ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

/—

GBT427442023

微波电路

电调衰减器测试方法

—

Microwavecircuit

Measurinmethodsforelectricallcontrolledattenuator

2023-08-06发布2024-03-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT427442023

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般要求…………………3

4.1测试环境……………3

4.2测试仪器……………3

4.3注意事项……………4

5详细要求…………………4

插入损耗()………………………

5.1Lins4

带内波动()……………………

5.2ΔL05

衰减量()…………………………

5.3Aatt5

衰减平坦度()……………………

5.4ΔA6

衰减范围()………………………

5.5

定制服务

关联标准

引用标准

GB/T 17573-1998

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