YS/T 1755-2025 颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
YS/T 1755-2025 Determination of Total Metal Impurity Content in Granular Silicon by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (ICP-MS)
行业标准-有色金属
简体中文
现行
页数:0页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
YS/T 1755-2025
标准类型
行业标准-有色金属
标准状态
现行
发布日期
2025-04-10
实施日期
2025-11-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
2025年04月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:- | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB23/T 1532-2013 超大型气浮隔微振装置技术基本要求 2013-10-11
- DB23/T 1531-2013 移相差动共焦显微镜技术要求 2013-10-11
- DB42/T 985-2014 抗除草剂转基因棉花对除草剂抗性田间评价技术规程 2014-06-18
- DB42/T 981-2014 汉绣 2014-04-28
- DB23/T 1527-2013 航空发动机动/静子同心度测量仪技术规程 2013-10-11
- DB23/T 1538-2013 水泥聚苯颗粒模壳格构式混凝土墙体建筑技术规程 2013-11-29
- DB23/T 1536-2013 家庭装饰装修施工与验收规范 2013-11-29
- DB23/T 1534-2013 平移式喷灌机使用技术规范 2013-11-21
- DB11/T 1105-2014 建筑外遮阳工程施工及验收规程 2014-06-27
- DB23/T 1528-2013 快速动态双频激光干涉仪技术规程 2013-10-11