GB/T 23364.1-2009 高纯氧化铟化学分析方法 第1部分：砷量的测定 原子荧光光谱法
GB/T 23364.1-2009 Methods for chemical analysis of high purity indium oxide—Part 1:Determination of arsenic content—Atomic fluorescence spectrometry
国家标准
中文简体
现行
页数：5页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 23364.1-2009
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2009-03-19
实施日期
2010-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
GB/T 23364的本部分规定了高纯氧化铟中砷量的测定方法。
本部分适用于高纯氧化铟中砷量的测定，测定范围(质量分数)为0.000 01%～0.005 0%。
本部分适用于高纯氧化铟中砷量的测定，测定范围(质量分数)为0.000 01%～0.005 0%。
发布历史
-
2009年03月
研制信息
- 起草单位：
- 广西冶金产品质量监督检验站、中国有色金属工业标准计量质量研究所
- 起草人：
- 黄肇敏、黄小珂、周素莲、黄旭升、税志坚、宫辛玲、李琳、李镭
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：7 千字 | 开本： 大16开
内容描述
犐犆犛７７．１２０
犎６６
中华人民共和国国家标准
／—
犌犅犜２３３６４．１２００９
高纯氧化铟化学分析方法
第部分：砷量的测定原子荧光光谱法
１
—
犕犲狋犺狅犱狊犳狅狉犮犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾狊犻狊狅犳犺犻犺狌狉犻狋犻狀犱犻狌犿狅狓犻犱犲
狔犵狆狔
：—
犘犪狉狋１犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳犪狉狊犲狀犻犮犮狅狀狋犲狀狋犃狋狅犿犻犮犳犾狌狅狉犲狊犮犲狀犮犲狊犲犮狋狉狅犿犲狋狉
狆狔
２００９０３１９发布２０１００１０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
／—
犌犅犜２３３６４．１２００９
前言
／《高纯氧化铟化学分析方法》分为个部分：
ＧＢＴ２３３６４６
———第部分：砷量的测定原子荧光光谱法；
１
———第部分：锡量的测定苯基荧光酮分光光度法；
２
———第部分：锑量的测定原子荧光光谱法；
定制服务
推荐标准
- T/CI 360-2024 IC封装基板图像检测系统技术规范 2024-05-16
- T/ACCEM 155-2024 陶瓷电容压力传感器 2024-10-24
- T/SICA 004-2024 音频用集成电路信号传输与控制接口要求 2023-12-26
- T/CVIA 126-2023 Micro LED显示屏光学性能技术规范-车载常规 2023-10-29
- T/GDGM 0022-2024 温室气体 产品碳足迹量化方法与要求 金属化薄膜电容器 2024-10-01
- T/CVIA 130-2023 视觉疲劳测试与评价方法 第3部分 电子纸可读性测试及评价方法 2023-11-07
- T/SLDHIA 3000-2024 平板LED显示屏技术要求 2024-01-10
- T/CASME 1530-2024 空调用防爆型压敏电阻器通用技术要求 2024-06-04
- T/SZMES 9-2024 手持式激光加工机械安全要求 2024-10-24
- T/ZJCX 0021-2022 汽车电子用石英晶体谐振器 2022-09-05