SJ/T 10745-1996 半导体集成电路机械和气候试验方法
SJ/T 10745-1996 Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits
行业标准-电子
中文(简体)
废止
页数:52页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
SJ/T 10745-1996
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1996-11-20
实施日期
1997-01-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1996年11月
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:52页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/SZCA 3-2021 装配式病原微生物实验室建筑技术规程 2021-08-21
- T/NBPIA 001-2020 血液净化室的设置规范 2020-04-18
- T/CHAS 10-2-24-2018 中国医院质量安全管理 第2-24部分:患者服务 住院患者静脉血栓栓塞症防治 2018-09-20
- T/CACM 1020.98-2019 道地药材 第98部分:安苓 2019-08-13
- T/CACM 1020.46-2019 道地药材 第46部分:川附子 2019-08-13
- T/SRMA 3-2018 基于ICF理念应用 功能障碍者生活自理能力评定方法量表 实践指南 2018-08-16
- T/CVMA 117-2023 宠物临床诊疗职业技能评价规范 宠物医师助理 2023-05-17
- T/FDSA 004-2019 聚六亚甲基胍类消毒剂含量测定方法 2019-07-10
- T/GDMA 33-2021 基于数据挖掘技术优选声学参数的儿童构音障碍评估规范 2021-07-14
- T/CACM 1233-2019 中医妇科临床诊疗指南 异位妊娠 2019-01-30