GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

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中华人民和国国家标准

GB/T35007-2018

半导体集成电路

低电压差分信号电路测试方法

Semiconductorintegratedcircuits一

Measuringmethodoflowvoltagedifferentialsignalingcircuitry

2018-03-15发布2018-08-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T35007-2018

目次

前言………………………皿

1范围－

2规范性引用文件…

3术语和定义·

4总则………………………2

4.1测试环境要求………………………2

4.2测试注意事项………………………2

5静态参数测试……………….2

5.1单端数字接口参数…….....……………….2

5.2输入高电平阑值电压（VTH）…………2

5.3输入低电平阑值电压（VTL)…………3

5.4输入电流（／TN）………………………4

5.5电源关断输入漏电流（／TN-OFF）……………………5

5.6输州LVDS高电压（VoHL）…………6

5.7输州LVDS低电压（VOLL）…………7

5.8共模输出电压（Vos）…………………8

5.9互补态共模输出电压变化（t:.Vos）…………………8

5.10差分输阳电压W。ρ………………9

5.11互补态差分输时电压变化（t:.V。ρ…………9

5.四LVDS输出短路电流（／OSL)………………………10

5.13电掘关断输出漏电流(I0-0FF)…………………11

5.14LVDS输州高阻态电流（／ozL)……………………12

5.15内置差分输入电阻仰川…………13

5.16内置差分输阳电阻（ROT)………………………13

5.17静态电源电流（IDD)………………14

5.四关断电源电流。DDz)……………四

6动态参数测试…………........……................16

6.1输入电容<Ci）和输州电容（（；。）…………………16

6.2动态电源电流(IDDt\)………………18

6.3最高T1作频率（jMt\ρ．．．．．．．．．………………………18

6.4最低下作频率（fMC,)………………19

6.5最大数据率（DRMAρ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．…………20

6.6输州白低电平到高电平传输延迟时间。PLH）……………………20

6.7输州由高电平到低电平传输延迟时间。PHL）……………………22

6.8输州由高阻态到高电平传输延迟时间（／PZH)……………………22

6.9输出由高阻态到低电平传输延迟时间。PZL）………….....……·24

6.10输出曲高电平到高阻态传输延迟时间。PHZ）……………………24

GB/T35007-2018

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图5输出LVDS高电压Vo111，、低电压Vou，测试原理图

5.6.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境泪度或参考点温度；

b)电源电压；

c)相应输入端施加l的条件；

d)被测差分输出端施加l的负载。

5.6.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接入测试系统中；

b)在电掘端施加规定的电压Von;

c)在相应输入端施加l规定的条件，被测差分输内端施加规定的负载；

d)在被测输出端视rj得输州LVDS高电压VoHL;

e)多通道器件按c）～们的规定，测试各对应被测输出端。

5.7输出LVDSfli电压CV01,1,)

5.7.1目的

测试器件单端输出端为逻辑低值时的输出低电平范围。

5.7.2测试原理图

VOLL~”试原理罔如罔5所示。

5.7.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境混度或参考点泪度；

b)电源电压；

c)相应输入端施加的条件；

d)被测差分输刷端施加l的负载。

7

GB/T35007-2018

5.7.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接人测试系统中；

b)在电源端施加1规定的电压ilvv;

c)在相应输入端施加规定的条件，被测差分输归端施加规定的电阻负载；

d)在被测输州主揣测得输出LVDS低电压VoLL;

c)多通道器件按c）～d）的规定，测试各对应被测输出端。

5.8共模输出电压（VOS)

5.8.1目的

测试器件输向共模直流点的波动范围。

5.8.2测试原理图

Vost'i!IJ试原理罔如罔5所示。

5.8.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境泪度或参考点泪度；

b)电源电压；

c)相应输入端施加的条件；

d)被测差分输出端施加｜的电阻负载。

5.8.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接入测试系统中；

b)在电惊端施加规定的电压Vvv;

c)在相应输入端施加1规定的条件，被测差分输归端施加规定的电阻负载；

d)在被测单端输刷端视1J得输州LVDS高电压VoHL丰1]输出LVDS低电压VoLL;

c)根据式(1）得到共模输出电压Vos;

Vos=(VoHL十VoLL)/2..(l)

f)多通道器件按c）～e）的规定，测试各对应被测输州端。

5.9互补态共模输出电压变化（AVOS)

5.9.1目的

测试共模输州电压Vos1和Vos2的差值，以反映器件的输州共模直流点在互补态时偏移情况。

5.9.2测试原理图

!:::.\iost'il1J试原理罔如罔5所示。

5.9.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

8

GB/T35007-2018

a)环境泪度或参考点泪度；

b)电源电压；

c)相应输入端施加互补输入条件；

d)被测差分输出端施加的电阻负载。

5.9.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接入测试系统中；

b)在电源端施加规定的电压Voo;

c)在相应输入端施加11王补输入条件，被测差分输出端施加规定的电阻负载；

d)按5.8规定的测试方法，分别测试互补输入状态的共棋输向电压Vosi和Vos2，根据式（2）计算

所得即为t.VOS;

t.Vos二IVos1Vo坦｜..(z)

e)多通道器件按c）～d）的规定，测试各对应被测输出端。

5.10差分输出电压（V。”）

5.10.1目的

测试器件输出信号摆rj甫的变化范围。

5.10.2测试原理图

Von测试原理罔如罔5所示。

5.10.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境泪度或参考点温度；

b)电源电压；

c)相应输入端施加的条件；

d)被测差分输出端施加l的电阻负载。

5.10.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接入测试系统中；

b)在电源端施加规定的电压Voo;

c)在相应输入端施加1规定的条件，被测差分输内端施加规定的电阻负载；

d)在被测输出端分别iY!IJ得输出LVDS高电压VoHL矛u输出LVDS低电压VoLL;

e)根据式。）算出输州LVDS高电压VoHL和输出LVDS低电压VoLL的差值，即为差分输州电

压Voo;

vOD=IvOHLvOLLI...(3)

f)多通道器件按c）～巳）的规定，测试各对应被测输附端。

5.11互补态差分输出电压变化（AVOl>

5.11.1目的

测试器件输出端的在两个互补态下的差分输州电压的差值，以反映器件的输归差分电压在互补态

GB/T35007-2018

时偏移情况。

5.11.2测试原理图

t:.VoD测试原理罔如罔5所示。

5.11.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境泪度或参考点温度；

b)电源电压；

c)相应输入端施加互补输入差分电压；

d)被测差分输出端施加的电阻负载。只能糊入刷

5.11.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接入测试系统中；

b)在电掘端施加规定的电压VDD;

c)在相应输入端施加互补输入条件，被测差分输州端施加规定的电阻负载；

d)按5.10规定的测试方法分别测试互补差分输出电压VoD1和V0D2，根据式（4）计算即为t:.VoD

!::,.VOD=IVOD1vOD2I...(4)

c)多通道器件按c）～d）的规定，测试各对应被测输向端。

5.12LVDS输出短路电流(I的，）

5.12.1目的

测试端口对地短路的电流，以反映器件输出端的驱动能力。

5.12.2测试原理图

TOSl，测试原理阁如罔6所示。

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图6LVDS输出短路电流I创L测试原理图

5.12.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

10

GB/T35007-2018

a)环境泪度或参考点泪度；

b)电源电压；

c)输入端施加的条件。

5.12.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接入测试系统中；

b)在电源端施加规定的电压VDo;

c)在相应输入端施加1规定的条件，使被测输州状态为高，被测输向端为高时对地短路，其他非被

视lj输出生前开路；

d)在被测输出端~lj得IOSL;

e)多通道器件按c）～d）的规定，测试各对应被测输州端。

5.13电源关断输出漏电流(Io-o川）

5.13.1目的

测试在电源断电时，输出端施加规定的高电压或低电压时流入或流出器件的电流，以反映器件关断

时输出漏电流的控制能力。

5.13.2测试原理图

To-oF，~rJ试原理罔如罔7所示。

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图7电源关断输出漏电流Io-on测试原理图

5.13.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境温度或参考点泪度；

b)电源电压；

c)被测输作I端施加｜规定的高电压或低电压。

5.13.4测试程序

测试程序如下：

11

GB/T35007-2018

a)将被测器件接人测试系统中；

b)电源端接ov电压；

c)在非被视rj输入端和输向端施加规定的条件；

d)被测输向前I电压V。调到规定的电压极值；

c)在被测输出吉揣测得输而漏电流［0Off;

f)多通道器件按c）～巳）的规定，测试各对应被测输出端。

5.14LVDS输出高阻态电流(1OZL)

5.14.1目的

测试在被测输出为三态时，流入或流出』EMR输出端的电流，以反映器件在三态时的漏电流水平。

5.14.2测试原理图

[OZL测试原理罔如罔8所示。

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图8LVDS输出高阻态电流IOZL测试原理图

5.14.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境泪度或参考点泪度；

b)电源电压；

c)三态控制端输入的电压；

d)被测输州端施加的高电压或低电压。

5.14.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接人测试系统中；

b)在电源端施加规定的电压Vnn;

c)在三态控制端施加规定的电压使输归为高阻态，在被视。输归端施加规定的高电平电压或低电

平电压，其他输入端和其他输出端按相关文件的规定；

d)在被测输出端测得，IOZL;

巳）多通道器件接c）～d）的规定，测试各对应被测输出端。

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5.15内置差分输入电阻（Rn)

5.15.1目的

测试器件的差分输入两端内置输入阻抗大小。

5.15.2测试原理图

Rn测试原理阁如阁9所示。

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图9内置差分输入电阻凡，测试原理图

5.15.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境泪度或参考点泪度；

b)电源电压。

5.15.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件接入测试系统中；

b)器件处于未施加电掘和信号激励状态；

c)非被测端口均处于开路状态；

d)读取被测端电阻测试值；

e)多通道器件按c）～d）的规定，测试各对应被测差分输入端。

5.16内置差分输出电阻（Ror)

5.16.1目的

测试器件差分输阳两端一内置输入阻扰大小。

5.16.2测试原理图

RoT测试原理罔如罔10所示。

13

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图10内置差分输出电阻Rm测试原理圄

5.16.3测试条件

相关文件应规定下列条件：

a)环境泪度或参考点混度；

b)电il京电压。

5.16.4测试程序

测试程序如下：

a)将被测器件搓、人测试系统中；

b)器件处于未施加电源和信号激励状态；

c)非被测端口均处于开路状态；

d)读取被测端电阻测试值；

e)多通道帮件按c）～d）的规定，测试各对应被测差分输出端。

5.17静态电源电流Uvu)

5.17.1目的

测试器件在静态状态下流过所有电源端的电流之和，以反映器件在元信号输入时的功耗水平。

5.17.2测试原理图

IDDvll。试原理罔如罔11所示。

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