GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB/T 1552-1995 Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1995-04-18
实施日期
1995-12-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1995年04月
研制信息
- 起草单位：
- 上海有色金属研究所
- 起草人：
- 施海青、顾小龙、林敏敏
- 出版信息：
- 页数：16页 | 字数：29 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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