GB 11887-2012 首饰 贵金属纯度的规定及命名方法
GB 11887-2012 Jewellery—Fineness of precious metal alloys and designation
国家标准
中文简体
现行
页数:9页
|
格式:PDF
基本信息
发布历史
-
2000年04月
-
2002年03月
-
2008年12月
-
2012年11月
研制信息
- 起草单位:
- 国家首饰质量监督检验中心
- 起草人:
- 段体玉、李素青、王春生、李玉鹍、李武军
- 出版信息:
- 页数:9页 | 字数:11 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS39.060
Y88
中华人民共和国国家标准
—
GB118872012
代替—
GB118872008
首饰贵金属纯度的规定及命名方法
—
JewellerFinenessofreciousmetalallosanddesination
ypyg
(:,—,)
ISO92021991JewellerFinenessofreciousmetalallosMOD
ypy
2012-11-05发布2013-05-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
—
GB118872012
前言
、、,。
本标准的第457章为强制性的其余为推荐性的
本标准按照/—给出的规则起草。
GBT1.12009
—《》,—,
本标准代替首饰贵金属纯度的规定及命名方法与相比主
GB118872008GB118872008
要技术变化如下:
———();
删除了引言见2008版的引言
———();
在规范性引用文件一章补充了近年发布的相关标准见第章
2
———,“”(,);
删除了有害元素的具体规定修改为应符合的规定见版的
4.3GB284804.320084.3
———()。
删除了有害元素测定的相关内容见版的
6.220086.2
本标准使用重新起草法修改采用:()《首饰贵金属纯度的规定》。
ISO92021991E
:,:
本标准与相比在结构上有较多调整附录中列出了本标准和的
ISO92021991AISO92021991
章条编号对照一览表。
:
定制服务
推荐标准
- GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 2011-01-10
- GB/T 26060-2010 钛及钛合金铸锭 2011-01-10
- GB/T 26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 2011-01-10
- GB/T 26063-2010 铍铝合金 2011-01-10
- GB/T 26064-2010 锂圆片 2011-01-10
- GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 2011-01-10
- GB/T 26062-2010 铌及铌锆合金丝 2011-01-10
- GB/T 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范 2011-01-10
- GB/T 26061-2010 钽铌复合碳化物 2011-01-10
- GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸测试方法 2011-01-10