GB/T 11276-2007 表面活性剂 临界胶束浓度的测定
GB/T 11276-2007 Surface active agents—Determination of the critical micellization concentration
国家标准
中文简体
现行
页数：7页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 11276-2007
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2007-08-13
实施日期
2008-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
化学工业表面活性剂标准化技术委员会
适用范围
本标准规定了表面活性剂临界胶束浓度的测定。
本标准中反离子活度测量法适用于阳离子表面活性剂临界胶束浓度的测定；圆环测定表面张力法适用于阴离子和非离子表面活性剂临界胶束浓度的测定。
发布历史
-
1989年03月
-
2007年08月
研制信息
- 起草单位：
- 上海染料研究所有限公司
- 起草人：
- 庄永斌、曹丹
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：12 千字 | 开本： 大16开
内容描述
犐犆犛７１．１００．４０
犌７２
中华人民共和国国家标准
／—
犌犅犜１１２７６２００７
代替／—，／—
ＧＢＴ１１２７６１９８９ＧＢＴ１１２７８１９８９
表面活性剂临界胶束浓度的测定
—
犛狌狉犳犪犮犲犪犮狋犻狏犲犪犲狀狋狊犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狋犺犲犮狉犻狋犻犮犪犾
犵
犿犻犮犲犾犾犻狕犪狋犻狅狀犮狅狀犮犲狀狋狉犪狋犻狅狀
２００７０８１３发布２００８０２０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
／—
犌犅犜１１２７６２００７
前言
本标准中反离子活度测量法对应于：《阳离子表面活性剂的氢氧化物和氢溴化物
ＩＳＯ６８４０１９８２
临界胶束浓度的测定反离子活度测量法》，与：的
定制服务
推荐标准
- GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 1992-12-18
- GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 1992-12-18
- GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 1992-12-18
- GB/T 14026-1992 半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种 1992-12-17
- GB/T 14012-1992 黑白显象管玻壳总规范(可供认证用) 1992-12-17
- GB/T 14025-1992 半导体集成电路门阵列电路系列和品种 ECL系列的品种 1992-12-17
- GB 13955-1992 漏电保护器安装和运行 1992-12-19
- GB/T 13951-1992 移动式平台及海上设施用电工电子产品环境试验一般要求 1992-12-19
- GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 1992-12-18
- GB 13950-1992 电气绝缘用聚酯薄膜 1992-12-19