GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序〕

ICS31.200

L55

中华人民共和国国家标准

GB/T16465—1996

IEC748-22-1992

QC760200

膜集成电路和混合膜集成电路分规范

（采用能力批准程序）

Sectionalspecificationforfilmintegratedcircuits

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andhybridfilmintegratedcircuitsonthebasisofthe

capabilityapprovalprocedures

1996-07-09发布1997-01-01实施

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目次

1范围和目的

1.1范围

1.2目的

2总则、优先特性、额定值和环境（包括机械）试验严酷度

2.1有关文件，-•……

2.2优先额定值和特性-

2.3详细规范应规定的内容

3能力批准程序2

能力鉴定电路（CQCs）的选择2

3.2结构相似性3

3.3能力批准3

3.4拒收批（逐批检验）的再提交.9

3.5非IEC成员国中已批准的制造厂的制造工序9

4试验和测量程序9

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附录A能力批准的结构相似规则10

附录B厚膜电路制造厂能力细则的最少内容要求21

附录C薄膜电路制造厂能力细则的最少内容要求28

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中华人民共和国国家标准

膜集成电路和混合膜集成电路分规范

GB/T16465—1996

（采用能力批准程序）IEC748-22—1992

QC760200

Sectionalspecificationforfilmintegratedcircuits

andhybridfilmintegratedcircuitsonthebasisofthe

capabilityapprovalprocedures

本规范等同采用国际标准IEC748-22/QC760200（1992）《膜集成电路和混合膜集成电路分规范

（采用能力批准程序）》。

1范围和目的

1.1范围

本规范适用于采用能力批准程序评定质量的膜集成电路和混合膜集成电路,包括产品目录上的电

路和定制电路。

1.2目的

本规范的目的是提供优先的额定值和特性值，从总规范中选择合适的试验和测量方法，并为根据本

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规范制定的膜集成电路和混合膜集成电路详细规范规定总的性能要求。

优先值的概念适用于目录电路，而不适用于定制电路。

参照本分规范制定的详细规范，其规定的试验严酷度和要求应等于或高于分规范的性能水平，比其

低的水平是不允许的。

同本规范直接相关的是具有IEC或国家编号的空白详细规范。按照本规范2.3条的规定填写空白

详细规范，即构成详细规范。应用这些详细规范授予成品电路的能力批准时，应遵照制造厂能力细则中

规定的能力范围，并且应按能力认证体系的规定进行能力批准维持。

2总则、优先特性、额定值和环境（包括机械）试验严酷度

2.1有关文件

GB/T8976-1996膜集成电路和混合膜集成电路总规范

GB/T16466-1996膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用能力批准程序）

2.2优先额定值和特性

电压和电流的优先值在IEC747-1中给岀；

电阻器和电容器的优先值在GB/T2471中给出,

定制电路可以选择任意的值和误差。

本规范规定的电路其气候类别按照SJ/Z9001.1的规定分类。低温和高温试验的严酷度分别是较

低和较高的温度类别。由于某些电路的结构特点,这些温度可能出现在SJ/Z9001.2和SJ/Z9001.3中

给岀的两个优先温度之间，在这种情况下，应选择最接近电路实际温度的优先值。

2.3详细规范应规定的内容

详细规范应根据有关空白详细规范制定。______________________

国家技术监督局1996-07-09扰准’1997-01-01实施

GB/T16465—1996

详细规范规定的严酷度应不低于总规范或分规范规定的严酷度，若需要更严格的要求时，应列入详

细规范，并在试验表中用“星号”标出。

注：为了方便起见，尺寸、特性和额定值的数据可以采用表格形式给岀。

每个详细规范应规定以下内容，引用值应优先从本分规范适用的条款中选择。

每个详细规范应规定逐批检验所要求的各项试验和测量。至少要包括本规范中给出的有关试验及

其方法和严酷度。

能力鉴定电路（CQCs）的详细规范应包括的环境试验（包括机械试验）、测量、严酷度和周期试验的

终点极限值,并应符合总规范和本规范的规定。

2.3.1外形图和尺寸

电路应具有外形图，以便容易识别,并同其他电路比较。详细规范应规定那些影响互换性和安装尺

寸及其相关的偏差。所有尺寸用毫米（mm）为单位表示。

一般情况下，应给出壳体的长、宽和高以及引出端间距的数值;对于圆柱形应给出壳体的直径、长度

和引岀端的直径。

当需要时，例如当一个详细规范含有一种以上的封装时,尺寸及其相关的偏差应在图下的一个表中

列岀。

当其结构与上述不同时,详细规范应规定那些能充分描述电路外形的尺寸数据。

2.3.2安装

详细规范应规定常规使用时以及在振动、碰撞或冲击试验时所用的安装方法。在电路使用中有时要

求电路设计有特殊的安装夹具。在这种情况下，详细规范应规定安装夹具，并且在进行振动、碰撞或冲击

试验时应使用这些夹具。

2.3.3环境（包括机械）试验的严酷度国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

详细规范应规定从GB/T8976-1996第4章选择合适的试验方法和严酷度。

2.3.4标志

详细规范应规定在电路和外包装上的标志内容。与GB/T8976—1996中2.6条不一致处应该明确

指岀。

2.3.5订货资料

详细规范应规定订购电路时所要求的下述资料：

1）电路类型（例如，混合厚膜集成电路）；

2）详细规范的编号以及品种代号和评定水平（适用时）；

3）电路功能（适用时）；

4）基本功能特性及其偏差（适用时）。

2.3.6附加资料（不作检验用）

详细规范可以包括通常不要求按检验程序验证的资料，如为了便于说明所需要的电路图、曲线、图

形和注释等。

3能力批准程序

见GB/T8976—1996中3.6条和以下规定。

3.1能力鉴定电路（CQCs）的选择

3.1.1用于批准试验的CQCs应来源于下述电路：

1）为鉴定设计规则、工艺和产品而设计的专用电路；

和（或）

2）将售给用户的电路。

这些CQCs连同工艺试验样品应足以评定所有的设计规则、材料和制造工艺,包括任何转包工艺。

2

g/t16465-1996

用于评定的膜元件和外贴元件的端口应便于进行单独的电测量，而不受其他电路元件的影响。

3.1.2CQCs用于完成能力批准和周期试验中规定的试验项目，从而向国家监督检查机构（NSI）证明

设计布局极限：

1）达到了单个膜元件所要求的性能指标；

2）满足预定要交货电路的环境极限；

3）满足能力细则和详细规范中的电功能和电性能要求。

3.1.3已经按照GB/T11498«膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）》获得鉴定批

准的电路，按照有关的结构相似要求，征得NSI同意，也可以作为CQCs（只要已满足3.1.1的要求），用

来进行能力批准。

3.1.4已经获得能力批准的制造厂所生产的任何电路如果通过GB/T11498中规定的相应试验，也可

获得鉴定批准。

3.1.5采用定制电路作为CQCs的制造厂可以根据生产方案更改试验电路的类型。在这种情况下，

CQCs可能无法满足评定所有能力极限的要求，但它至少应能代表现行的能力批准在维持期间所放行

的电路。

制造厂选择的CQCs应符合NSI的要求。

3.1.6当加工件在共用工序（例如包封）之后分成几道工序,则这一共用工艺可以用其中任一单独样品

来评定。

3.1.7如果制造厂对所有电路进行筛选，则可以按正常的生产工艺，使用筛选过的CQCs进行能力批

准。

如果制造厂的初始筛选通常不进行，或者是任意选择的，则可用未筛选过的电路进行能力批准。

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3.2结构相似性

1）CQCs应由制造厂的总检验长来选择，并在实施能力批准方案之前得到NSI同意。

2）本规范附录A给出了进行电试验、尺寸检验和环境（包括机械）试验的成品电路分组的结构相似

规则。

3）这些规则应作为批准时选择样品的依据，也用来确定新电路是在现行的批准能力之内，还是需

要扩展能力极限以求得放行。

4）对某一试验分组而言，如果CQCs是结构相似的，则可以组合在一起满足试验表中要求的数量,

每个试验分组都有它自己的结构相似规则和判据（见附录A）。

3.3能力批准

3.3.1GB/T8976—1996中3.6条给出的能力批准程序

采用CQCs进行能力批准的试验表和质量一致性检验（逐批和周期试验）的试验表共同规定了对成

品电路的最少试验方案。

制造单位可以自愿选择采用的评定水平KL或M,但获得能力批准的制造单位仅能按以下规定放

行产品：

评定水平放行评定水平

KKL或M

LL或M

MM

注：如果需要表示未鉴定的元件，可以使用后缀“N”（见GB/T8976-1996中3.6.2.3条）。

制造单位可以按GB/T8976给岀的程序来提高其已经批准的评定水平;如果直到试验间隔期满为

止，仍未进行新的维持试验，则应降级。以上两种情况都要通知NSI。

对于特定的应用所需的附加试验，应在详细规范中规定,并得到用户和制造单位双方同意。

有关环境试验后电性能极限值应在详细规范中规定。

GB/T16465—1996

3.3.2B组试验完成前的产品交货放行

对于生产批量较小的电路，若检验批的收集需要延长时间，征得用户的同意后，只要先前同样的电

路通过了B组试验，制造厂可以在B组试验前放行产品。

在这种情况下，制造厂应在有关的放行文件上清楚地标明所放行的电路是按照本规范3.3.2条放

行的，并在放行后一个月内完成试验。

如果随后进行的B组试验失效，则根据失效的原因，或者收回先前已经放行的产品，或者停止放

行。

3.3.3能力批准（固定样本大小程序）

3.3.3.1抽样

样本大小及合格判定数取决于所规定的评定水平，并在表2中详细规定。

当试验表中引进附加组时,“0”组要求的电路数也应增加，增加的数量等于附加组所要求的数量。

3.3.3.2试验

表1规定了对所有CQCs和工艺试验样品进行试验的内容，以考核设计规则、材料、工艺、零部件和

封装。

对于每个试验组,不同的CQCs可以根据附录A中规定的结构相似规则组合在一起，以达到该试

验组对样品数的要求。

.表1中的一系列完整试验是为批准能力细则中规定的能力极限而规定的。每组试验都应按给定顺

序完成。

样本应经受“0”组试验，然后分到其他各组。

“0”组试验不合格的电路不能再用于其他组。

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当一个CQC不能满足一个组的全部或部分试验时,就计为“一个不合格品”。

如不合格数未超过每组（或分组）规定的允许不合格品数，并且总的不合格品数未超过规定的允许

不合格品数时，则予以批准。

表1能力批准的试验表

样本大小和合格判定数在表2中按评定水平规定。

条款号引自总规范第4章。

条款号、试验和试验顺序D/ND试验条件性能要求

0组ND

01分组

4.3.1封盖前的目检

02a分组ND

4.3.2外部目检和标志检査

02b分组

4.3.3尺寸

03分组"D

4.5.16易燃性（仅供参考）

04分组"ND

4.5.9密封

05分组ND

4.4.11室温下主要静态和动态电特

性

GB/T16465-1996

续表1

条款号、试验和试验顺序D/ND试验条件性能要求

06分组ND

4.4.11极限工作温度下主要静态和

动态电特性

1组"〉顺序D/ND

初始测量4.4.11:05分组

4,5・6振动（扫频）

和

4.5.7恒定加速度

或"

4,5,5冲击

和

4.5.7恒定加速度

最后测44.5.9：密封

4.4.n：C5分组

2组顺序

初始测量4.4.11:05分组

4.5.11耐焊接热国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

4.5.15.2耐溶剂性"

4.5.8温度变化

4.5.3稳态湿热"

最后测量4.5.9：密封"

4.4.11:05分组

4.3.2外部目检和标志检

查

3组e顺序

4.5.10可焊性

4.5.12.1拉力

4.5.12.3弯曲（圆引线或带状引线）

最后测量4.5.9：密封"

或"

4.5.10可焊性

4.5.12.1拉力

4.5.12.3弯曲（整排）

4.5.12.2推力

最后测量4.5.9：密封"

4组顺序

初始测量4.4.11:05分组

GB/t16465-1996

续表1

条款号、试验和试验顺序D/ND试验条件性能要求

4.5.2低温ND温度：C

4.5.1高温贮存温度：：C

最后测量4.4.11:05分组

5组D

初始测量4.4.11:05分组

4.5.14耐久性：1000h

耐久性：2000屮

最后测量4.4.11:05分组

注：1）仅对空封电路；

2）安装条件按详细规范规定;

3）按详细规范规定选择；

4）对非密封电路详细规范可以略去湿热试验；

5）允许使用经过全部加工后的电性能不合格品！

6）对于评定水平K：1000h后，暂时批准；

2000h后，正式批准；

7）适用于有机材料密封的产品,

8）对CQCs不作要求。

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3.3.4能力批准的维持

3.3.4.1筛选和逐批接收试验

对所有欲向用户放行的电路，筛选和逐批试验按空白详细规范表2的规定。

对于A组和B组试验，检验批应取自同一周内的产品，或者是由制造厂规定的最长不超过一个月

的其他周期内的产品。

3.3.4.2周期试验

CQCs的周期试验按详细规范表3和空白详细规范的规定。

当定制电路用作CQCs时，则周期试验样品应从已通过筛选试验（适用时）和逐批检验的检验批中

抽取。

耐久性试验1000h后可授予暂时能力批准。

3.3.4.3试验

空白详细规范应规定能力批准维持所需要的全部试验。

每组试验应按规定的顺序进行。

一T电路不能满足某组试验的全部或部分试验时,则计为“一个不合格品”。

如并合格品数未超过该组（或分组）规定的允许不合格品数，或者总的不合格品数未超过规定的允

许不合格品数，则可以维持批准。

3.3.5特殊要求

小批量产品——尚在考虑中。

3.3.6质量一致性试验

3.3.6.1试验程序表

质量一致性检验的逐批和周期试验程序表在空白详细规范的表2和表3中给出。

3.3.6.2评定水平

能力批准（见表1）和能力批准维持（见有关空白详细规范）的D评定水平应从表2和表3中选择。

6

GB/T16465-1996

表2用于首次能力批准的评定水平和合格判定数

表中:"样本大小；

C——合格判定数（允许不合格品数）。

评定水平

表1的检验组或

KLM

分组

nCnCnC

01要求—\__一一—

02a751〉2602432

02b818181

03（仅供参考）2一2一2—

04391261131

0570126屮123912

0626113181

—

—

110181

22)13110181

222

313110181

413110181

5(1000h)—一201131

1-

(2000h)201国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页「―二―

注：1）当不要求作1组试验时,此电路数目可减掉那些不需要的相应的电路数。

2）对每种规定的溶剂最少试验4块电路。

表3用于质量一致性检验的评定水平和合格判定数（见表3A和表3B）

表3A以抽样为基础所进行的逐批试验

表中：IL检查水平；

AQL——合格质量水平。

条款号引自总规范第4章。

评定水平

检验组或分组

KLM

要求不要求不要求

筛选（见表4）

ILAQLILAQLILAQL

A1分组

I1I2.5I2.5

4.3.2外部目检和标志检查

A2分组

I0.25I0.4I1

4.4.11室温下的主要静态和动态电特性

A3分组

S-41————

4.4.11极限工作温度下的主要静态和动态电特性

E1分组

S-32.5S・32.5S-32.5

4.5.10可焊性

B2分组

S-41S-41S-4-1

4.3.3尺寸

GB/T16465-1996

表3B以抽样为基础所进行的周期试验

表中：P——周期（月）；

n—样本大小；

C—合格判定数（允许不合格品数）。

条款号引自总规范第4章。.

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8

GB/T16465—1996

表4筛选

筛选顺序应按表4。

顺序

步骤检查或试验总规范条款号详细要求和条件

ARCDE

1*封盖前的目检4.3.1在考虑中X

2高温贮存4.5.1最高贮存温度下24hX1XXX

3温度变化4.5.810次循环XXXX

Tstgmin:

Tstgmax:

4*恒定加速度4.5,7在最严酷的方向上，加速度等级按详细规范规定XX■X

5*密封4.5.9XXX

6电测量选择参数XXX

（老化前）剔除不合格品

7老化按详细规范规定XXX

h:1687248

8电测量按步骤6的规定剔除不合格品，如果不合格品数超过

XXXXX

（筛选后〉10%,则拒收该批

*除非详细规范中另有规定，一般不适用于非空封电路。

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注：①除非详细规范中另有规定，应记录测量结果。

②筛选一般在A组、B组和C组检验前进行。当筛选在A组、B组和C组检验完成后进行时，必须重作可焊性、

密封性和A组试验。空白详细规范可以要求附加的筛选后试验。

3.4拒收批（逐批检验）的再提交

电气试验后的任何拒收批应退回到生产线，针对鉴别出的缺陷进行再加工或再筛选，在该批中不应

该含有新电路。

然后,应将该批再提交并在加严检验的条件下进行检验。

该批应保持相同的批号，并且记录再提交的细节。同一批的提交不应超过三次。

3.5非IEC成员国中已批准的制造厂的制造工序

如果符合GB/T8976-1996中3.2条的条件时,则对于本规范包括的膜集成电路和混合膜集成电

路而言，允许制造厂扩展其能力批准的范围。

4试验和测量程序

本章包括膜集成电路和混合膜集成电路典型应用的所有试验和测量程序，而这些在GB/T8976—

1996第4章内没有规定。

每个详细规范应规定逐批试验和周期试验要求的所有试验和测量程序，并且最少应包括本规范所

给出的有关试验及规定的方法和严酷度。

对于CQCs的周期试验，其环境试验、测量、严酷度和终点极限值均应在详细规范中规定，并应符合

总规范和本规范的规定。

9

g/t16465—1996

附录A

能力批准的结构相似规则

（补充件）

引言

本附录规定了一种新电路是否包含于制造厂申报的能力以及CQCs所做的试验的判定规则，也可

以用来指导制造厂如何选择包含一定能力的CQCs。

Al结构相似规则中的CQCs的确定

1)表A10和本规范中的表1以及空白详细规范中的表3配套使用。

用于周期试验的电路应是生产线上在制电路的代表。

已经根据总规范表1初步分类的电路，制造厂应根据本规范的表A1进一步对表征其能力的材

料、工艺和基本技术进行分类。

2)制造厂应针对其当前和以后的产品范围,对照表A2〜表A7和表A10中规定的相似规则，审查

其不一致之处，以便从技术角度确定能力批准需要多少种不同类型的CQCs。

3)对照表A8和表A9审查CQCs的质量和尺寸极限值是否合适。除ii）中提到的CQCs以外，可能

还需要一些CQCs以包含这些方面的要求。

4)在根据总规范第4章选择了适合的环境试验严酷度后，可列表说明每种CQC所经受的试验和

严酷度。国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

5)如某电路与某CQC结构相似，则要求该电路的布线设计规则、电气和环境额定值以及电特性不

应比CQCs更严格。

通常,CQCs从下述两种电路中选择；

——为包含各种电路的实际能力极限而专门设计的电路,它应使CQC的类型降到最少；

——广泛应用的常规定制电路或产品目录上的电路。

A2新电路

首先，对于每种将要制造的在本体系内放行和出售的新电路，应检查并保证其可以使用已批准的设

计规则、材料、工艺和封装形式制造。

其次,应考虑其特性与现行CQCs的关系，即在材料和工艺（表A2〜表A7）质量和尺寸（表A8和

表A9）适用的试验和严酷度（表A10和总规范的第4章）这些方面，其特性应由1个或多个CQC覆

盖。

如果现行的CQCs不能覆盖新电路，而制造厂又希望放行,则制造厂首先应根据总规范3.6.3.5条

的规定扩展其能力。在这种情况下，可能要对CQC或新电路增加试验。

A3程序指南

图1给出了A1和A2所规定原则的实施指南。

A3.1用于能力批准的CQCs的选择和试验。

10

g/t16465-1996

将制造的电路

电路的技术分类

见总规范表1

CQCs的选择材料、工艺和技术

（见本规范3.1条）见本规范表At

能力极限：

基片（表A2）

布线（表A3）

外贴有源和无源元件（表A4、A5、A6）

封装（表A7）

质量和尺寸（表A8、A9）

环境试验（表A10）

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图1

A3.2用于新电路的程序见图2。

11

GB/T16465-1996

新电路

是否在能力范围内

（与一个或多个CQCs的结构相似性）

本附录的表A1〜A10

否是

鉴定批准程序能力扩展程序

（对新电路或CQCs进行补充试验）

分规范（采用鉴定批准本规范的本规范的表3A

程序）的表3A和表3E表3A和表3E没有附加试验

图2

表A1技术、材料和工艺的分类

——下表中给岀了材料、工艺和技术的一些实例，并分别在表A2〜表A7中具体说明。

——表中所列