GB/T 7509-1987 半导体集成电路微处理器空白详细规范(可供认证用)
GB/T 7509-1987 Blank detail specification for microprocessor semiconductor integrated circuits
国家标准
中文简体
现行
页数:16页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 7509-1987
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
1987-03-25
实施日期
1987-11-01
发布单位/组织
国家标准局
归口单位
适用范围
-
发布历史
-
1987年03月
研制信息
- 起草单位:
- 集成电路标准化技术委员会微机工作组
- 起草人:
- 胡燕、童本敏
- 出版信息:
- 页数:16页 | 字数:23 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- YS/T 927-2025 三氧化二铋 2025-12-17
- YS/T 1115.4-2025 铜、铅、锌原矿和尾矿化学分析方法 第 4 部分:硫含量的测定 高频红外吸收法、燃烧中和滴定法和硫酸钡重量法 2025-12-17
- YS/T 928.4-2025 镍钴锰三元前驱体化学分析方法 第 4 部分:铁、钙、镁、铜、锌、硅、铝、钠、铅和硫含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 2025-12-17
- YS/T 1833-2025 选矿药剂 巯基乙酸异辛酯 2025-12-17
- YS/T 1115.2-2025 铜、铅、锌原矿和尾矿化学分析方法 第 2 部分:铅和锌含量的测定 Na2EDTA 滴定法 2025-12-17
- YS/T 990.9-2025 冰铜化学分析方法 第 9 部分:总铁和四氧化三铁含量的测定 2025-12-17
- YS/T 1115.1-2025 铜、铅、锌原矿和尾矿化学分析方法 第 1 部分:铜含量的测定 碘量法 2025-12-17
- YS/T 706-2025 铜基包覆复合粉 2025-12-17
- YS/T 1831-2025 复合氧化铜粉中铜、氧化亚铜和氧化铜含量的测定 高锰酸钾滴定法和差减法 2025-12-17
- YS/T 1115.3-2025 铜、铅、锌原矿和尾矿化学分析方法 第 3 部分:铜、铅、锌、镍、钴、镉、锰、镁和银含量的测定 火焰原子吸收光谱法 2025-12-17