T/CIET 1128-2025 场发射扫描电子显微镜技术要求
T/CIET 1128-2025 Field emission scanning electron microscopy technical requirements
团体标准
中文(简体)
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
T/CIET 1128-2025
标准类型
团体标准
标准状态
现行
发布日期
2025-03-26
实施日期
2025-03-26
发布单位/组织
-
归口单位
中国国际经济技术合作促进会
适用范围
范围:本文件规定了场发射扫描电子显微镜的基本原理、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输及贮存等内容。
本文件适用于场发射扫描电子显微镜;
主要技术内容:本文件规定了场发射扫描电子显微镜的基本原理、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输及贮存等内容。本文件适用于场发射扫描电子显微镜
发布历史
-
2025年03月
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研制信息
- 起草单位：
- 惠然科技有限公司、北京大学、北京金竟科技有限责任公司、中国计量科学研究院、东方显微(北京)科技有限公司、通标中研标准化技术研究院（北京）有限公司、途邦认证有限公司
- 起草人：
- 王志斌、鞠晶、何超、李伟、崔战伟、李洋、李肖、邓煦、刘岩、吴永利、汪贤峰、时俊伟、李泽锋、徐敬铭、包瑾、程胜楠
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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