1. 当前位置：
  2. 首页 >
  3. 国家级标准 >
  4. GB/T 5252-2006

GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

GB/T 5252-2006 Germanium monocrystal—Inspection of dislocation etch pit density

国家标准 中文简体 被代替 已被新标准代替，建议下载标准 GB/T 5252-2020 | 页数：8页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 5252-2006
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
H17 半金属及半导体材料分析方法
国际标准分类号（ICS）
77.040.01 金属材料试验综合
发布日期
2006-07-18
实施日期
2006-11-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
本标准适用于位错密度0cm-2～100000 cm-2 的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为（111）、（100）和（113）面。

发布历史

文前页预览

GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法-第1页
GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法-第2页
GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法-第3页

研制信息

起草单位：
北京有色金属研究总院
起草人：
余怀之，刘建平
出版信息：
页数：8页 | 字数：13 千字 | 开本： 大16开

内容描述

暂无内容

定制服务

    推荐标准

    关联标准

    替代以下标准
    GB/T 5252-1985
    GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
    被代替
    被以下标准替代
    GB/T 5252-2020
    GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
    现行

    相似标准推荐

    更多>