GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法

GB/T 14028-2018 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

国家标准中文简体现行页数：25页 | 格式：PDF

基本信息

标准号

GB/T 14028-2018

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L56 半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）

31.200 集成电路、微电子学

发布日期

2018-03-15

实施日期

2018-08-01

发布单位/组织

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

适用范围

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。

发布历史

1992年12月

GB/T 14028-1992　半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理

被代替 1992-12-18
2018年03月

GB/T 14028-2018　半导体集成电路模拟开关测试方法

当前标准现行 2018-03-15

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研制信息

起草单位：: 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子(北京)股份有限公司、西北工业大学

起草人：: 张冰、李雷、陈志培、闫辉、朱华、黄德东

出版信息：: 页数：25页 | 字数：46 千字 | 开本：大16开

内容描述

ICS31.200

L56

中华人民共和国国家标准

/—

GBT140282018

代替/—

GBT140281992

半导体集成电路

模拟开关测试方法

—

Semiconductorinteratedcircuits

Measurinmethodofanaloueswitch

2018-03-15发布2018-08-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

GBT140282018

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4总则………………………2

4.1测试环境要求………………………2

4.2测试注意事项………………………3

4.3电参数符号…………………………3

5参数测试…………………4

模拟电压工作范围()……………

5.1VA4

导通电阻()………………………

5.2Ron5

导通电阻路差()………………

5.3ΔRon6

截止态漏极漏电流[]…………

5.4I()6

Doff

截止态源极漏电流[]…………

5.5I()7

Soff

导通态漏电流[()]………………

5.6I8

DSon

定制服务

关联标准

引用标准

GB/T 17940-2000

GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路

现行

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GB/T 14028-1992

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