GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

ICS31.200

L56

中华人民共和国国家标准

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GBT140282018

代替/—

GBT140281992

半导体集成电路

模拟开关测试方法

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Semiconductorinteratedcircuits

g

Measurinmethodofanaloueswitch

gg

2018-03-15发布2018-08-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

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GBT140282018

目次

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4总则………………………2

4.1测试环境要求………………………2

4.2测试注意事项………………………3

4.3电参数符号…………………………3

5参数测试…………………4

模拟电压工作范围()……………

5.1VA4

导通电阻()………………………

5.2Ron5

导通电阻路差()………………

5.3ΔRon6

截止态漏极漏电流[]…………

5.4I()6

Doff

截止态源极漏电流[]…………

5.5I()7

Soff

导通态漏电流[()]………………

5.6I8

DSon