GB/T 16529-1996 光纤光缆接头 第1部分：总规范 构件和配件

GB/'e16529一1996

前言

本标准是根据国际电工委员会IEC1073-1:1994《光纤光缆接头第1部分:总规范—构件和配

件》制定的，技术内容和编写规则均与之等同。

这样，通过使我国该类产品标准与国际标准等同，以适应国际贸易、技术和经济交流日益增长的需

要。

光纤光缆接头在光纤通信和非通信应用中占有重要地位，是已在国际和国内市场上形成规模生产

的商品化产品。IEC1073从1991年3月首次颁布后，于1994年7月首次修订，并先后发布三项分规范，

即:

IEC1073-2光纤光缆接头第2部分:分规范一光纤光缆接头盒和集纤盘

IEC1073-3光纤光缆接头第3部分:分规范一光纤光缆熔接式接头

IEC1073-4光纤光缆接头第4部分:分规范一光纤光缆机械式接头

本规范的制定为光纤光缆接头采用国际标准提供必要的技术依据。

附录A、附录B均为提示的附录。

本标准由中华人民共和国电子工业部提出。

本标准由电子工业部标准化研究所归口。

本标准负责起草单位:上海传输线研究所。

本标准主要起草人:黄浩显、陈国庆、高文浩、王毅。

GB/T16529一1996

IEC前言

1)IEC(国际电工委员会)是由各国家电工委员会(IEC国家委员会)组成的世界性标准化组织。

IEC的目的是促进电工电子领域标准化间题的国际合作。为此目的，除其他活动外，IEC发布国际标准。

国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关切的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制

定工作。与IEC相联系的任何国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化

组织((ISO)根据两组织间协商确定的条件，保持密切的合作关系。

2)IEC在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员

会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。

3)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义

上为各国家委员会认可。

4)为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。

IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。

5)IEC未制定使用认可标志的任何程序。当宣称某一产品符合相应的IEC标准时，IEC概不负责。

国际标准IEC1073-1是由IEC第86技术委员会(纤维光学)的86B分技术委员会(纤维光学互连

器件和无源器件)制定的。

本标准文本以下列文件为依据:

国际标准草案表决报告

86B(中央办公室)11486B(中央办公室)152

表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。

本标准封面上的QC号为IECQ规范号

附录A和附录B仅供参考。

GB/T16529一1996

IEC序言

本标准共分四章、第I章为“总则”，包括本标准有关的一般资料。

第z章为要“求”，包括本标准规定的光纤光缆接头构件和配件应符合的全部要求。其中涉及产品分

类、文件资料、设计和结构、质量、性能、识别标志和包装等方面的要求。

第3章为“质量评定程序”，包括本标准规定的产品进行相应质量评定所遵循的全部程序。

第4章为“测量和环境试验程序”，包括质量评定所用的测量方法和环境试验程序。

中华人民共和国国家标准

光纤光缆接头

第1部分:总规范

构件和配件GB/'r16529一1996

idtIEC1073-1:1994

]icesforopticalfibresandcablesQC850000

Part1:Genericspecification-

Hardwareandaccessories

1总则

1.1范围

本标准适用于光纤和光缆接头构件(对中零件、保护零件等)和接头配件(集纤盘、接头盒等)。它包

括:

—对光纤光缆接头构件的要求;

—对光纤光缆接头配件的要求;

一一用于鉴定批准和质量评定的测量与试验程序。

1.2引用标准

下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均

为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性

GB12507-90光纤光缆连接器第1部分:总规范(idtIEC874-1:1987)

IECQC001001:1986IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)基本章程

IECQC001002:1986IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)程序规则

IEC27电工技术用文字符号

IEC50(731):1991国际电工词汇(IEV)第731章:光纤通信

IEC68-1:1988基本环境试验规程第1部分:总则和导则

IEC68-2-1:1990基本环境试验规程第2部分:各种试验试验A:寒冷(低温)

IEC68-2-2:1974基本环境试验规程第2部分:各种试验试验B:干热(高温)

IEC68-2-3:1969基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Ca:稳态湿热

IEC68-2-5:1975基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Sa:模拟地面上的太阳辐射

IEC68-2-6;1982基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Fe和导则:振动(正弦)

IEC68-2-7:1983基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Ga和导则:恒定加速度

IEC68-2--9;1975基本环境试验规程第2部分:各种试验太阳辐射试验导则

IEC68-2-10:1988基本环境试验规程第2部分:各种试验试验J和导则:长霉

IEC68-2-11:1981基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Ka;盐雾

IEC68-2-13:1983基本环境试验规程第2部分:各种试验试验M:低气压

IEC68-2-14:1984基本环境试验规程第2部分:各种试验试验N:温度变化

国家技术监督局1996一09一09批准1997一05一01实施

GB/'r16529一1996

IEC68-2-17:1978基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Q:密封

IEC68-2-27:1987基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Ea和导则:冲击

IEC68-2-29:1987基本环境试验规程第2部分:各种试验试验验Eb和导则:碰撞

IEC68-2-30:198。基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Db和导则:循环湿热(12h+

12h循环)

IEC68-2-38:1974基本环境试验规程第2部分:各种试验试验:Z/AD:温度/湿度组合循环

试验

IEC68-2-42:1982基本环境试验规程第2部分:各种试验试验Kc:接触点与连接件的二氧

化硫试验

IEC410:1973计数检查抽样方案和程序

IEC419:1973电子元器件(或部件)规范中逐批检查与周期检查程序指南

IEC617:1983·图形符号

IEC695-2-2:1991着火危险试验第2部分:试验方法—针焰试验

IEC793-1:1992光纤第1部分:总规范

IEC794-1:1987光缆第1部分:总规范

IEC875-1:1992纤维光学分路器第1部分:总规范

ISO129:1985技术制图一一尺寸标注—总则、定义、标注方法和专门标注

ISO286-1:1988ISO极限和配合体系第1部分:基本公差、偏差和配合

ISO370:1975尺寸公差—英寸和毫米的相互换算

ISO1101:1983技术制图—几何公差—形位公差、定向、定位和偏差—通则、定义、符号，图

的标注

ISO8601:1988数据元素和换算公式—信息交换—日期和时间表示法

1.3定义

本标准采用下列定义和IEC50(731)中的定义。

1}3}1光纤接头fibresplice

两根光纤间永久式或可分离式(见1.3.4)连接，它一般具有保护措施，避免正常操作中可能导致的

损坏。

1.3.2光缆接头cablesplice

两根或两根以上光缆的保护性连接，它可由光纤接头、集纤盘和接头盒组成。

1.3-3永久式接头permanentsplice

如不破坏接合点就不能被分离的接头。

1.3.4可分离式接头separablesplice

虽然旨在作永久式连接却能够分离的接头，但有别于旨在作多次连接和分离的连接器。

1.3.5混装式接头hybridsplice

具有光纤接头和电导体接头的光缆接头。

1.3.6熔接式接头fusionsplice

以熔接方法将光纤端永久式连接的接头。

1.3.7机械式接头mechanicalsplice

以任何机械方式而不是用熔接方式将光纤永久式或半永久式地连接的接头。

1.3.8环境受控接头controlledenvironmentsplice

设计的接头应用于受控制的环境，如建筑物内、室内等。

1.3.9环境非受控接头non-controlledenvironmentsplice

设计的接头应用于不受控环境。极限温度、水浸、低气压均为环境非受控的例子。

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1.3.10接头构件splicehardware

光纤接头的任何单独的零件。

1.3.11互换接头interchangeablesplicesets

具有相同的安装几何尺寸和性能要求的接头被认为是可互换的接头。

1.3.12分门类sub-family

在分规范中规定的光纤光缆接头技术或配件的范围。

1.3.13阻档层密封barrierseal

为防止潮气或气体进入光纤光缆接头而采用的方法或机构。

1.3.14接头固定件spliceholder

用以存贮若干个光纤接头的器具，它可以是接头集纤盘的组成部分。

1.3.15接头集纤盘spliceorganizer

用以收容和有序安放接头固定件及保护光纤接头和(或)接头工艺要求的余长光纤的器具。它保护

光纤和光纤接头免受机械损坏，以规则的方式控制光纤的最小允许弯曲半径并使光纤处于不受应力的

存贮状态。接头集纤盘置于接头盒之内。

1.3.16接头盒spliceclosure

保护光纤接头和接头集纤盘使其免受外部机械和环境作用的配件。

1.3.17基本试验primarytest

以受控方式进行的温度、湿度、冲击和振动等环境试验。

2要求

本章和有关分规范规定了本标准包括的光纤光缆接头构件和配件的要求。

2.1分类

光纤光缆接头构件和配件应按下列类别进行分类;随着接头技术的发展可能改变或增加若干项

目。

类型，

品种;

—规格;

—配置;

—气候类别;

一一评定水平。

2.1.1类型

光纤光缆接头构件和配件应按下列项目加以规定

—类型名称

例如:转动接头;

TK(干线)接头盒;

UC(通用)接头盒。

—接头配件种类:

例如:机械式接头;

熔接式接头构件;

集纤盘;

接头盒。

—结构

例如:永久式接头;

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可分离式接头;

带有接头固定件的集纤盘;

不带接头固定件的集纤盘

2.1.2品种

光纤光缆接头构件和配件的品种应按下列项目加以规定，这些项目根据接头构件或配件的种类不

同可有变化。

2.1.2.1机械式接头

—光纤种类(按照IEC793-1)

—接头方法

例如:V形槽式;

套管式;

精密棒式;

粘结式;

夹待式。

—对中方法

例如:包层0卜表面、包层轴线定位);

纤芯定位(传输功率，目检);

自对中;

第二基准表面(例如，套筒)

—同时制作接头的光纤数

例如:单纤;

多纤(说明最多纤数)。

—折射率匹配

例如:匹配胶;

匹配液;

处理的树酷;

无匹配材料。

—光纤被覆层去除

例如:要求去除;

不要求去除。

2.1.2.2熔接式接头

一一光纤种类按〔照IEC793-1)

—同时制作接头的光纤数

例如:单纤;

多纤(说明最多纤数)。

—接头保护

例如:胶;

液体;

处理的树酉旨;

注塑;

收缩管;

护架结构

2.1.2.3集纤盘

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—光纤或光缆类型

例如:松包单根光纤;

松包多根光纤;

光纤带;

具有特种被覆层的光纤。

2.1-2.4接头盒

—密封种类

例如:机械式;

收缩式。

—保护种类

例如:填充式;

充气加压式。

—材料种类

例如:金属;

塑料。

2.1.3规格

接头构件和配件规格应规定其附加的特点:

例如:采用的光纤附加尺寸;

安装或固定点;

接头盒中的光缆数、光纤数或集纤盘数;

一个集纤盘内的接头或接头固定件数。

2.1.4配置

光纤光缆接头构件和配件配置应规定产品交货的形式。

例如:工具配置;

接头构件配置;

集纤盘和接头固定件配置;

接头盒与集纤盘的配置。

2.1.5气候类别

光纤光缆接头和配件应按照气候类别加以分类。该类别规定了器件所适用的寒冷、干热和湿热气候

试验条件。器件至少应承受寒冷(见4.5.11)、干热(见4.5.12)和稳态湿热(见4.5.13)环境试验。

采用以斜线隔开的三组数字序列标明气候类别，这三组数字分别对应于器件应承受的寒冷温度、干

热温度及暴露于稳态湿热中的天数，如下所示:

—第1组数字:2位数字代表寒冷试验采用的最低环境温度;

—第2组数字:3位数字代表干热试验采用的最高环境温度;

当要求的温度仅为2位数字时，其前应加数字“0"以组成3位数字。

—第3组数字:2位数字代表稳态湿热试验(Ca)天数。

当要求的持续天数仅为1位数字时，其前应加数字“0"以组成2位数字。

例如:

55/125/21

低温一55C‘

高温125'C

稳态湿热21d-

cB/T16529一1996

可规定的优先值如下表所示:

低温高温湿热待续时间

℃℃d

一5301254

一104015510

一255517521

一407020056

一5585

一65100

2.1.6评定水平

评定水平规定了A组和B组检查的检验水平、合格质量水平(AQL)和C组、D组检验的周期。分规

范应规定一个或一个以上的评定水平，每一评定水平应以一个大写字母命名。

优先评定水平如下:

评定水平A

—A组检验:检查水平I,AQL=4%;

-B组检验:检查水平I,AQL=4%;

-C组检验:周期为24个月;

—D组检验:周期为48个月。

评定水平B

—A组检验:检查水平I,AQL=1%;

—B组检验:检查水平I,AQL=1%;

-C组检验:周期为18个月;

-D组检验:周期为36个月。

评定水平C

—A组检验:检查水平I,AQL=0.4%;

—B组检验:检查水平I,AQL一。·4%;

-C组检验:周期为12个月;

-D组检验:周期为24个月。

在详细规范中可以增加其他可能的评定水平(不同于分规范中规定的评定水平)。

在这种情况下应采用大写字母X,

2.2文件

2.2.1符号

凡有可能时，图形和文字符号应从IEC27和IEC617中选择。

2.2.2规范体系

本标准是四层IEC规范体系的一部分，所属规范应由分规范(含空白详细规范)和详细规范组成。

规范体系见表1。

2.2.2.1分规范

分规范应规定接头构件和配件的分门类(见1.3.12)。分门类的举例有机械式接头，熔接式接头构

件，接头盒和接头集纤盘。分规范至少应包括下列内容:

—类型(见2.1.1);

—质量评定程序(见第3章);

—一个或多个空白详细规范。

GB//T16529一1996

表1四层IEC规范结构

规范层次所含内容举例适用于

评定体系规则二个或多个元器件门类

检验规则

环凌试验方法

抽样方案

识别规则

标志标准

基础标准尺寸标准

术语标准

符号标准

优先数系

SI单位

专用术语元器件门类

专用符号

专用单位

优先值

总规范

标志

质量评定程序

试验与测量方法

附加术语元器件分门类

附加试验方法

选择的试验

下列优先值

—特性

分规范—标称值

—试验严酷度

—尺寸

鉴定批准和(或)能力批准

程序

质量—致性试验—览表具有通用的试验—览表的类型组

空白详细规范检验要求

对类型编号的通用内容

特定值特定类型器件

详细规范专用内容

完整的质量致性试验一一览表

每个空白详细规范应包括:

—最少规定的试验一览表和性能要求;

—一个或一个以上的评定水平;

—填写详细规范中要求内容的优先格式和说明。

Gs/T16529一1996

每个空白详细规范应限于:

—一个品种(2.1.2);

—几个结构类似的规格(见2.1.3和3.2)0

2.2-2.2空白详细规范

空白详细规范本身不是一个规范层次，它是分规范的一部分。分规范可含有一个以上的空白详细规

范

2.2-2.3详细规范

详细规范至少应规定下列内容:

一类型(见2.1.1);

—品种(见212);

一规格(见2.1.3);

一配置(见2.1.4);

一气候类别(见2.1.5);

—评定水平(见2.1.6);

一尺寸和公差极限(见2.2.3);

—鉴定程序方法(见3.3);

-一每一规格的零件识别号(见2.6.1),

—试验程序要求的全部参照器件(见2.2.4-2)和量规(见2.2.4.3)所必须具有的图、尺寸和性能

判据;

—性能要求(见2.5)。

2.2.3图

在分规范和详细规范中给出的图和尺寸既不限制结构细节，也不作为制造图纸使用。

2,2.3.1投影体系

本标准包括的文件中的图应采用第一角或第三角投影。在同一文件中的全部图纸应采用相同的投

影体系，并且应说明图中采用的投影体系。

2.2.3.2尺寸体系飞‘

应按照ISO129,ISO286-1和ISO1101给出全部尺寸。

在分规范、详细规范中应采用公制，尺寸及其公差均应以毫米值给出。在特殊情况下要求详细规范

注出英寸值时，英寸值应注在相应毫米值后的括号内并说明原始尺寸体系为公制单位，但分规范中不能

采用。单位制间的换算应按照ISO370的规定。需换算尺寸时应在详细规范中增加下列注释:“以，n为

单位的尺寸值由以mm为单位的尺寸值换算而来。虽无必要严格按照ISO370换算，但在准确度上相对

于原始尺寸是可接受的”。

尺寸值应不多于五位有效数。

2.2.4测量

2.2.4门测量方法

当尺寸总公差范围为。.01mm(0.0004in)或0.01mm以下时，所采用的尺寸测量方法应在有关

规范中规定(见附录A)o

2.2-4.2参照器件

如有要求，应在有关规范中规定参照器件。

2.2-4.3量规

采用说明:

i1根据国家统一实行计量单位的法规，本条相对于国际标准有适当修改

cs/T16529一1996

如有要求，应在有关规范中规定量规。

2.2.5试验资料单

按照详细规范进行的每项试验均应拟制试验资料单。在鉴定报告(见3.3-7)和周期检验报告(见

3.4-2-5)中应含有该资料单

资料单至少应包括下列内容:

—试验名称、日期;

—试样说明。试样说明中还应包括规格识别号(见2.6.1);

一采用的试验设备和最近的校验日期;

—全部测量数值及有关观测结果;

一一提供失效分析跟踪资料足够的详细文件(见3.3.6和3.4.2.4)0

2.2.6使用说明

制造厂应给出使用说明，其中应包括:

一装配说明，

—如必要，附加内容。

22.了安全事宜

从未加盖帽或未端接的光纤输出端口可能出射具有潜在危害的光辐射。不要求接头制造厂在接头

上作出这样的标志.但在制造厂提供的资料巾应获得足够的信息告诫系统设计师或其他有关人员留心

这一潜在危害，并指出必要的安全操作事项。

在有关规范中应包括下列文字:

“警告:

当处置直径很小的光纤时应注意避免穿刺皮肤，特别是眼部。当光纤传输功率时，不应直接盯着光

纤末端和未端接的器件端口，除非预先已保证光输出为安全能力水平”。

23设计和结构

设计和结构应满足详细规范各项要求

2.3.，金属

在接头结构、接头构件、接头配件中采用的全部金属应为防腐蚀类型材料，或应经适当的镀涂

2.3.2非金属

当要求不可燃性材料时，在有关规范中应规定相应要求，并应参照标准IEC695-2-2,

2.4质量

应采用第3章质量评定程序控制接头构件和配件的质量。如适用，对质量评定应采用第4章的测量

与试验程序。

2.5性能

接头构件和附件应符合详细规范中规定的性能要求。

2.6识别和标志

当详细规范要求时应对器件、辅助构件和包装加以水久和清晰的识别和标志。

2.6门规格识别号

应以规格识别号命名详细规范中的每一规格。规格号应包括详细规范号，接着加短线和四位数字和

表征评定水平的一个字母。四位数字中的首位应为详细规范包括的每一器件类型顺序命名号。其余三

位数字应为该器件每一规格的顺序命名号

举例:

GB/T16529一1996

QC850101/GB001001A吐

下一下

一|

卜.|

1

详细规范号

器件类型

规格号

评定水平

2.6-2器件标志

如有要求，应在详细规范中规定器件的标志，标志的优先顺序为:

ll制造厂识别标志;

2)制造日期代码;

3)制造厂零件号;

4)规格识别号。

2.6.3包装标志

包装标志应包括下列内容:

1)制造厂识别标志;

2)制造厂零件号;

3)制造日期代码(年/星期，见ISO8601);

4)规格识别号(见2.6.1);

5)类型(见2.1.1);

6)评定水平;

7)有关规范要求的任何附加标志。

当适用时，特立单元包装(在密封包装之内)应标志放行批合格记录参照号、制造厂识别代码和器件

识别。

2.7包装

当有关规范要求时，包装中应含有使用说明书(见2.2.6).

3质I评定程序

器件质量评定和放行程序包括:

—鉴定批准程序(见3.3);

一一质量一致性检验(见34).

11初始制造阶段

本标准包括的接头构件和配件的初始制造阶段定义为:

对产品质量重要的零件制造或按详细规范规定将其装配成产品的制造阶段。

IECQC00100211.2.lc)项允许初始制造阶段和分阶段的分包。

3.2结构类似

为鉴定批准和质量一致性检验，按下列界限规定对结构类似器件进行分组。

结构类似器件应是:

—由基本相同的材料制造;

—按基本相同的设计制造;

—采用基本相同的工艺和方法制造;

—采用相同的光纤固定技术(见2.1.3);

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—采用相同的光缆固定技术(见2.1.3);

—采用相同的对中技术((2.1.3)o

结构类似器件可以是:

—采用各种光纤尺寸;

—采用各种光缆尺寸。

结构类似器件不可以是:

—预定用于不同的光纤结构或技术。

为鉴定批准和质量一致性检验，对结构类似器件作的特殊分组应经国家监督检查机构批准。

3.3鉴定批准程序

本标准和有关规范规定鉴定批准程序。

制造厂应:

—遵守IECQC001002第11章的一般要求;

—遵守对制造厂初始制造阶段性能的要求(见3.1);

-一提供试验证据表明成功地完成了鉴定试验程序。

3.3.1和3.3.2的程序是按照IECQC001002中11-3.1规定鉴定的两个替代程序详细规范应规

定采用的哪一程序，

3.3门固定样本程序

固定样本程序包括按详细规范规定的固定样本鉴定试验一览表对提交的一个样本中的样品进行试

验。样本应从当前生产的产品中抽取。

应在详细规范中规定鉴定批准用固定样本程序的样本大小。

样品在完成O“”组检验后，应随机被分到其他组。

3.3.2逐批和周期检验程序

逐批和周期程序包括对在尽可能短的时间内抽取的规定检验批数(至少为三批)进行逐批检验，然

后对从其中至少一个批中抽取样品进行周期检验。

应按IEC410从检验批中抽样。应采用正常检查，但当样本大小意味着按零个不合格品予以接收

时，应增加样品数以满足按一个不合格品予以接收所需要的样本大小。

3.3.3试样制备

详细规范应规定所采用的光纤和(或)光缆的尺寸和类型和长度。应按照制造厂使用说明书(见

2.2.6)装配试样。

3.3.4鉴定检验、

鉴定试样应符合有关规范中给定的性能要求。

3.3.5鉴定失效

在鉴定试验中发生失效时制造厂应立即通知国家监督检查机构。如果国家监督检查机构确定对失

效未能充分说明并进行纠正时，制造厂的总检查员可能被指令进行正式的失效分析。分析完成时制造厂

应起草失效报告并提交给国家监督检查机构失效报告应对此失效予以描述，应说明所发生的失效原因

并建议将采取的纠正措施。此后国家监督检查机构应决定将采取的步骤。

在鉴定批准报告(见3.3.7)中应包括全部失效报告，其中包括国家监督检查机构的指示。

一个或一个以上的失效应是拒绝给予鉴定批准的理由。

3.3.6鉴定批准的维持

应采用连续提交器件进行3.4中规定的质量一致性检验维持器件的鉴定批准。

如果存在任何下列情况应验证鉴定批准:

—生产进度使周期检验不能按规定的频次进行;

—器件不能保证其初始鉴定批准的一致性。例如，技术改进可能潜在改变器件的性能;

GB/T16529一1996

—所作的变动增加了规范的要求

应按照IECQC:001002第11-5.3和11-5.4规定的程序重新验证鉴定批准。

3.3.7鉴定报告

在鉴定批准报告中应按照IECQC;001002第11.3记录鉴定试验结果。

3.4质量一致性检验

质量一致性检验包括本标准和详细规范中规定的逐批检验和周期检验。

制造厂应遵守管理器件质量一致性检验规则和程序的一般要求(见IECQC001002第12章)。

逐批和周期检验一览表应规定分组并应按照IECQC001002第12.3加以确定。

3.4.1逐批检验

逐批检验包括对的样本中的试样进行详细规范中规定的A组检验和B组检验。

应按规定的抽样方案从每一检验批中抽取试样，样品应随机抽取。

在最后检验期间可能采用器件零件的生产过程控制数据来代替对这些成品器件的检验。

3.4_11检验批构成

检验批可由采用下列方式集合的一个生产批或数个生产批组成:

—检验批应由结构类似的生产批组成(见3.2);

—集合生产批的整个周期应不超过一个月。

生产批集合成检验批的方案应经国家监督检查机构批准。

3.4.1.2拒收批

应按照IECQC001002第12.4.1的要求处理逐批检验中发现失效的试样。对拒收批可进行返修，

以纠正缺陷或筛除失效的产品。然后应提交返修批按加严检验作重新检验。应将该返修批与新批分开

并应清楚标志为重新检验批。

3.4.2周期检验

周期检验应包括对样本中试样进行详细规范中规定的C组和D组检验。应按有关评定水平规定的

周期对每一组进行检验。应相互维持检验周期以便在D组周期情况下由D组检验代替C组检验。

3.4.2.1样本大小

详细规范应规定周期检验的样本大小。

试样应从自上一个周期检验以来通过3.4.1逐批检验的检验批中抽样。

3.4-2.2试样制备

详细规范应规定所采用的光纤和(或)光缆尺寸、类型和长度。应按照生产厂使用说明书(见2.2-6)

装配试样。

3.4.2.3要求

周期检验试样应符合有关规范中规定的性能要求口

3.4-2.4失效

应按照3.3.5程序处理失效。

如果试样不符合周期检验要求，则制造厂总检查员应立即开始执行IECQC001002第12.6的要

求。

一个或一个以上的失效应导致撤消鉴定批准。

3.4.2.5周期检验报告

应按照IECQC001002第12.4.2的要求维持周期检验结果。

3.5放行批证明记录

详细规范中应规定是否要求放行批证明记录。当有要求时，应按照IECQC001002第14章拟制放

行批证明记录并至少应包括下列内容:

—周期检验包括的各组试验的计数数据(即:被试器件数量和失效器件数量)，不涉及导致拒收的

GB/'r16529一1996

参数。

—按分规范要求变量数据。

I6延期交货

随放行批一同放行的贮存期超过二年的器件在交货前应重新检验。制造厂应推荐重新检验程序并

应经国家监督检查机构批准。经重新检验的产品可返回贮存另一规定周期的贮存。

注:当与器件一起提供诸如粘结剂等可短期退化的材料时，制造厂应标志出这些材料的期满日期(年或星期数，见

ISO8601)，同时给出有关危害的注意事项或贮存环境条件的要求

3.7完成B组检验前交货放行

对全部B组检验，当IEC41。关于转移规则中放宽的条件得到满足时，允许制造厂在完成B组试

验之前交付器件。

3.8替代试验方法

可采用有关规范中规定的替代试验方法，但制造厂必须使国家监督检查机构满意，认为替代方法所

获得的结果与用规定方法获得的结果等效。在有争议的情况下，只能采用在有关规范中的规定试验方

法。

I9不检验参数

只有在详细规范中作了规定并曾作过试验的器件的那些参数可被认为在规定范围之内。不应认为

凡未规定的参数在器件之间都是均匀一致、不变化的。如果有必要控制规定参数以外的参数，则应制定

和采用新的涉及范围更宽的详细规范。对补充的试验方法应加以详细说明，并应规定合适的性能范围和

评定水平。

4测2和环境试验程序

4.1标准条件

采用包括试样恢复在内的IEC68-1标准大气条件。有关规范应规定预处理程序和恢复程序。

4.2试样

在有关规范中应规定包括采用的光纤和(或)光缆在内的试样。

4.3光学表面的清洁

除非在详细规范中另有规定允许对光学表面加以清洁作为试验预处理和恢复程序的一部分，应按

照使用说明书(见2.2-6)进行清洁。

4.4测量程序

质量评定所采用的测量程序应从表2中选择。

表2测量程序一览表

程序条引程序条

外观检查一监测回波损耗4.4.7

{

尺寸4.4.2同时监测插入损耗和回波损耗4.4.8

产品检验4.4.3串音4.4.9

插入损耗4.4.4」环境光祸合4.4.10

回波损耗频谱损耗4.4.11

1

监测插入损耗{4.4.6一

4.4.1外观检查

4.4.1.1目的

本程序的目的在于确定试样的设计、结构和标志符合有关规范的要求。

4.4.1.2概述

GB/T16529一1996

检查试样，保证被检查的器件数量和类型正确，加工质量满意，标志正确。

4.4.1.3装置

按照要求。

4.4.1.4程序

a)按规定对试样作预处理。

b)按规定要求对试样作外观检查。

)c进行规定的恢复程序。

4.415要求

在有关规范中应规定组成试样的器件类型和数量。

标志应符合有关规范的要求。

4.416规定的细节

按适用情况，在有关规范中应规定下列细节:

—器件的类型和数量;

—标志;

—预处理程序;

—恢复程序;

—与标准测量程序的差别。

4.42尺寸

4.4，2.1目的

本程序旨在保证试样符合有关规范中给出的尺寸要求。

4.42.2概述

测量的全部尺寸应符合有关规范。

44.23装置

当在有关规范(见2.24.)1中规定了尺寸测量方法时，则应采用规定的方法;否则可采用合适的测

量仪器。

4.42.4程序

a)按规定对试样作预处理。

b)测量尺寸。

。)进行规定的恢复程序。

4.4.2.5要求

全部尺寸应符合有关规范。

442.6规定的细节

按适用情况，在有关规范中应规定下列细节:

—尺寸;

—如有要求2(.2.41)，尺寸测量方法;

—预处理程序;

—恢复程序;

—与标准测量程序的差别。

4.4.3产品检验

4.4.3.1目的

本程序旨在检验可能由环境试验(基本试验)导致的试样变化。

4.4.3.2概述

在基本试验中规定的时间，采用外观检查技术对试样作初始检查。环境试验后再次检验试样因条件

GB/T16529一1996

处理导致的损坏。

44.3.3装置

如适用，可采用光学检验仪器。最高允许的光学放大倍数为5倍。

4.43.4程序

a)在基本试验规定的初始测量时间对试样作外观检查。

b)在基本试验规定的测量时间作重复检验。

4.4.35要求

试样应无开裂、松弛、变形或零件移位的迹象;应无恶化试样正常工作的裂缝、碎片和其他损坏

标志应清晰。

4.4-3.6规定的细节

按适用情况，在详细规范中应规定下列细节:

—初始测量时间;

-—测量次数;

—与标准测量程序差别。

4.4.4插入损耗

4.4.4.1目的

本程序旨在于测定当在一段光纤中插入一接头而引起的光功率降低的数值。

插人损耗并非完全是由接头不精确引起的，光纤的不精确也导致损耗。无论单模光纤和多模光纤其

几何尺寸和光学性能的差异均在连接点引起损耗。不同批光纤间以及单根光纤段中都存在这些差异

(如:纤芯直径，纤芯与包层的不同心度、数值孔径等)。显然这些损耗不是由接头造成，但却不可能将这

些损耗与接头引起的损耗分开来。因此在有关规范中应规定试验光纤特性以便将测量过程中光纤损耗

降至最低限度。

由于在光学连接处存在着依赖于接点处光的模式分布的不同损耗，因此插人损耗测量是相当复杂

的。沿光纤任意点的模式分布是光源特性、光纤与光源藕合类型、光纤类型的函数，除单模光纤以外，它

还是光传输距离的函数。也就是，当光注入进光纤时，超过一定距离后，包层中传输的光会被除去。因此

在有关规范中规定注入模式条件是至为重要的。对多模光纤可规定满注入或稳态模式分布;对单模光纤

模式条件应为仅有基模在接头界面处和检测器处传输。

4.4-4.2概述

可采用两种不同方法测量插入损耗。

方法1为接头损耗理想测量程序，它包括对一段连续(未切断过并无临时接点)光纤进行初始光功

率测量，然后切断光纤，插人接头，再次测量光功率。

方法2为后向散射法或光时域反射计(OTDR)法，因具有与光源、检测器、祸合器件等的波动无关

的特点，因而是一种实用、准确而适用的方法·根据光纤后向散射性能，接头损耗可由正或负的台阶显

示。接头损耗由接头两端进行的后向散射测量平均值获得。

4.4-4.3装置

装置由下列部分组成:

—光源S;

—光检测器D;或

—光时域反射计;

—如有要求，包层模消除器。

光源S

。)输出辐射场图数值孔径N〔A)应大于所用光纤的数值孔径，其光斑直径应大于所用光纤的纤芯

直径。

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b)工作波长(包括器件波长容差)应与所用光纤的波长相适应。

。)在完成测量程序足够长的时间内输出功率应稳定在。.01dB之内。

光检测器D

a)检测器(及辅助电子装置)应能测量光纤出射的全部光能，在采用的波长下和预计功率范围内应

是线性的。

b)检测装置的分辨率应为。.01dB.

包层模消除器CMS

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