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GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)

GB/T 19403.1-2003 Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part11:Section1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)

国家标准 中文简体 现行 页数：24页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 19403.1-2003
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L56 半导体集成电路
国际标准分类号（ICS）
31.200 集成电路、微电子学
发布日期
2003-11-24
实施日期
2004-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位
全国集成电路标准化分技术委员会
适用范围
-

发布历史

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GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)-第1页
GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)-第2页
GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)-第3页
GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)-第4页

研制信息

起草单位：
信息产业部第四研究所
起草人：
魏华、王静
出版信息：
页数：24页 | 字数：45 千字 | 开本： 大16开

内容描述

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