GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法
GB/T 30118-2013 Single crystal wafers for surface acoustic wave(SAW) device applications—Specifications and measuring methods
国家标准
中文简体
现行
页数：31页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2013-12-17
实施日期
2014-05-15
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)
适用范围
本标准规定了人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片等。
本标准适用于人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。
本标准适用于人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。
发布历史
-
2013年12月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团第二十六研究所、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技有限公司
- 起草人：
- 张小梅、蒋春健、吴兆刚、吴剑波、赵雄章、周洋舟
- 出版信息：
- 页数：31页 | 字数：56 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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