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GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法

GB/T 30118-2013 Single crystal wafers for surface acoustic wave(SAW) device applications—Specifications and measuring methods

国家标准 中文简体 现行 页数：31页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 30118-2013
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L21 石英晶体、压电元件
国际标准分类号（ICS）
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
发布日期
2013-12-17
实施日期
2014-05-15
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)
适用范围
本标准规定了人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片等。
本标准适用于人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。

发布历史

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GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法-第1页
GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法-第2页
GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法-第3页
GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法-第4页
GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法-第5页

研制信息

起草单位：
中国电子科技集团第二十六研究所、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技有限公司
起草人：
张小梅、蒋春健、吴兆刚、吴剑波、赵雄章、周洋舟
出版信息：
页数：31页 | 字数：56 千字 | 开本： 大16开

内容描述

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