GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
GB/T 42838-2023 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
国家标准
中文简体
现行
页数：13页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 42838-2023
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2023-08-06
实施日期
2023-12-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
发布历史
-
2023年08月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司
- 起草人：
- 尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广
- 出版信息：
- 页数：13页 | 字数：27 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
/—
GBT428382023
半导体集成电路
霍尔电路测试方法
—
Semiconductorinteratedcircuits
g
MeasurinmethodofHolzercircuit
g
2023-08-06发布2023-12-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—
GBT428382023
前言
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