GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法

GB/T 42838-2023 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

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基本信息

标准号

GB/T 42838-2023

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L56 半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）

31.200 集成电路、微电子学

发布日期

2023-08-06

实施日期

2023-12-01

发布单位/组织

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

适用范围

本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

发布历史

2023年08月

GB/T 42838-2023　半导体集成电路霍尔电路测试方法

当前标准现行 2023-08-06

文前页预览

研制信息

起草单位：: 中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司

起草人：: 尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广

出版信息：: 页数：13页 | 字数：27 千字 | 开本：大16开

内容描述

ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

/—

GBT428382023

半导体集成电路

霍尔电路测试方法

—

Semiconductorinteratedcircuits

MeasurinmethodofHolzercircuit

2023-08-06发布2023-12-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT428382023

前言

定制服务

关联标准

引用标准

GB/T 17574-1998

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