GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
GB/T 42848-2023 Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
国家标准
中文简体
现行
页数：31页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 42848-2023
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2023-08-06
实施日期
2023-12-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
发布历史
-
2023年08月
研制信息
- 起草单位：
- 成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
- 起草人：
- 何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟
- 出版信息：
- 页数：31页 | 字数：62 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
/—
GBT428482023
半导体集成电路
直接数字频率合成器测试方法
—
Semiconductorinterratedcircuits
g
Testmethodofdirectdiitalfreuencsnthesizer
gqyy
2023-08-06发布2023-12-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—
GBT428482023
目次
前言…………………………Ⅲ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3术语和定义………………1
4总则………………………3
4.1测试环境……………3
4.2测试注意事项………………………3
4.3相关文件……………3
5静态参数…………………3
5.1逻辑输入高电平电压VIH…………3
5.2逻辑输入低电平电压VIL……………4
5.3逻辑输出高电平电压VOH…………5
5.4逻辑输出低电平电压VOL…………6
5.5逻辑输入高电平电流I……………7
IH
5.6逻辑输入低电平
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