GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法

GB/T 42848-2023 Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer

国家标准 中文简体 现行 页数:31页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 42848-2023
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2023-08-06
实施日期
2023-12-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器(以下简称“器件”)电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。

发布历史

研制信息

起草单位:
成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
起草人:
何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟
出版信息:
页数:31页 | 字数:62 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS31.200

CCSL56

中华人民共和国国家标准

/—

GBT428482023

半导体集成电路

直接数字频率合成器测试方法

Semiconductorinterratedcircuits

g

Testmethodofdirectdiitalfreuencsnthesizer

gqyy

2023-08-06发布2023-12-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT428482023

目次

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4总则………………………3

4.1测试环境……………3

4.2测试注意事项………………………3

4.3相关文件……………3

5静态参数…………………3

5.1逻辑输入高电平电压VIH…………3

5.2逻辑输入低电平电压VIL……………4

5.3逻辑输出高电平电压VOH…………5

5.4逻辑输出低电平电压VOL…………6

5.5逻辑输入高电平电流I……………7

IH

5.6逻辑输入低电平

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