GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

GB/T 43063-2023 Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

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基本信息

标准号

GB/T 43063-2023

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L55/59 微电路

国际标准分类号（ICS）

31.200 集成电路、微电子学

发布日期

2023-09-07

实施日期

2024-01-01

发布单位/组织

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

归口单位

中华人民共和国工业和信息化部

适用范围

本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、面阵和时间延迟积分（TDI)CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。

发布历史

2023年09月

GB/T 43063-2023　集成电路 CMOS图像传感器测试方法

当前标准现行 2023-09-07

文前页预览

研制信息

起草单位：: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司

起草人：: 李俊霖、张涛、兰太吉、杨永强、赵宇、聂真威、韩冰、金辉、马洪涛、卢岩、徐江涛、刘昌举、唐延甫、聂凯明、李金、高志远、马悦、刘国清、王琪、刘秀娟

出版信息：: 页数：32页 | 字数：64 千字 | 开本：大16开

内容描述

ICS31.200

CCSL55

中华人民共和国国家标准

/—

GBT430632023

集成电路CMOS图像传感器测试方法

—

InteratedcircuitTestmethodforCMOSimaesensors

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT430632023

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4测试参数名称及符号……………………1

5一般要求…………………2

5.1测试环境……………2

5.2测试系统……………2

5.3规定条件……………3

5.4静电防护要求………………………3

6测试方法…………………4

6.1转换增益K…………………………4

6.2暗信号SD……………7

()……………

6.3暗信号非均匀性固定图形噪声FPN8

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