JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范

JJF 1682-2017 Calibration Specification for Grating Micrometers

国家计量技术规范JJF 中文简体 现行 页数:28页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
JJF 1682-2017
相关服务
标准类型
国家计量技术规范JJF
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
-
国际标准分类号(ICS)
-
发布日期
2017-11-20
实施日期
2018-05-20
发布单位/组织
国家质量监督检验检疫总局
归口单位
全国几何量工程参量计量技术委员会
适用范围
本规范适用于0.1 μm级行程为0~10 mm、0.2 μm级行程为0~25 mm、0.5 μm级行程为0~50 mm、1 μm级~10 μm级行程为0~100 mm的光栅式测微仪校准。

发布历史

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研制信息

起草单位:
中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
起草人:
曹学东、匡龙、冉庆
出版信息:
页数:28页 | 字数:32 千字 | 开本: 大16开

内容描述

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