JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范
JJF 1682-2017 Calibration Specification for Grating Micrometers
国家计量技术规范JJF
中文简体
现行
页数：28页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
JJF 1682-2017
标准类型
国家计量技术规范JJF
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
2017-11-20
实施日期
2018-05-20
发布单位/组织
国家质量监督检验检疫总局
归口单位
全国几何量工程参量计量技术委员会
适用范围
本规范适用于0.1 μm级行程为0～10 mm、0.2 μm级行程为0～25 mm、0.5 μm级行程为0～50 mm、1 μm级～10 μm级行程为0～100 mm的光栅式测微仪校准。
发布历史
-
2017年11月
文前页预览
研制信息
- 起草单位：
- 中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
- 起草人：
- 曹学东、匡龙、冉庆
- 出版信息：
- 页数：28页 | 字数：32 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
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