SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则
SJ 20744-1999 General rule of infrared absorption spectral analysis for the impurity concentration in semiconductor materials
行业标准-电子
中文(简体)
现行
页数：5页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ 20744-1999
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1999-11-10
实施日期
1999-12-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1999年11月
研制信息
- 起草单位：
- 电子工业部第四十六研究所
- 起草人：
- 何秀坤、汝琼娜、李光平、李静
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
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