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T/CSTM 01003-2023 相变存储器电性能测试方法

T/CSTM 01003-2023

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/CSTM 01003-2023
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L 电子元器件与信息技术
国际标准分类号（ICS）
31.200 集成电路、微电子学
发布日期
2023-03-07
实施日期
2023-06-07
发布单位/组织
-
归口单位
中关村材料试验技术联盟
适用范围
范围:本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。 本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）; 主要技术内容:本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）

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研制信息

起草单位：
华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院
起草人：
缪向水、何强、童浩、程晓敏、刘峻、李硕、任玲玲、李锟
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

暂无内容

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