适用范围：本文件描述了使用光学显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)对银盐胶片中的卤化银颗粒、直接数字热敏银盐干式片中的山嵛酸银颗粒的形状及尺寸的表征方法。 本文件适用于银盐胶片中的卤化银颗粒、直接数字热敏银盐干式片中的山嵛酸银颗粒的表征。

适用范围：本文件规定了纳米磷酸铁锂的技术要求、检验规则及包装、标志、运输、贮存和订货单内容，描述了相应的试验方法。 本文件适用于锂离子电池正极材料纳米磷酸铁锂的制造和检验。 分子式：LiFePO4。 相对分子质量：157.755（根据2023年国际相对原子质量）。

适用范围：本文件规定了用于表征AFM探针形状，特别是柄和近尖端轮廓的两种方法。这两种方法分别通过将AFM探针尖轮廓投影到指定平面上，或者在确定的操作条件下将探针柄的特征投影到该平面上来实现。其中，后一种方法可以给出探针用于狭窄沟槽和类似轮廓结构的深度测量时的有效性。本文件适用于半径大于5u0的探针，其中u0是用于表征探针的参考样品脊形结构宽度的不确定度。

适用范围：本文件描述了以20°、60°或85° 3种几何条件测量涂层光泽的方法。 本文件适用于平整、不透明底材上无纹理涂层的光泽测量。 注：当测量的样品与上述提及的样品不同时，可以比较其光泽的高低。但是，不能保证得到的光泽值与目视光泽感受一致(见附录A)。

适用范围：本文件描述了测量涂膜颜色坐标具备的基本条件、测量方法，以及涂膜之间微小色差的定量色度评价方法。 本文件适用于测定反射光的颜色，即用正常视觉检查，能显示一种均匀颜色(即单色)的涂膜。也适用于测量不能完全遮盖不透明底材的涂膜(属于不透明系统涂膜)。 本文件不适用于测定发光涂膜、透明和半透明涂膜(例如，用于显示器或灯玻璃上的涂膜)、反光涂膜(例如，用于交通标记的涂膜)和金属光泽涂膜(含效应颜料涂膜)的颜色。 注： 根据两试样的色坐标，计算其色差有很多公式，但按这些公式计算的结果不能在所有情况下与视觉取得完全的一致。并且他们之间也可能不一致。1976年国际照明委员会(CIE)推荐了两种常用公式。其中之一是本文件规定的CIE 1976(L*a*b*)色差公式，现已证明其对于涂膜的色度评价是有实用意义的。

适用范围：本文件描述了用圆盘振荡硫化仪测定橡胶混炼胶硫化特性的方法。关于硫化仪的使用介绍见ISO 6502-1。

适用范围：本文件描述了在常规分析条件下从特定样品获得的X射线光电子能谱(XPS)数据中评估元素检测限并给出报告的程序。本文件适用于均匀材料，对XPS信息深度内元素深度分布不均匀的材料不适用。

适用范围：本文件规定了二甲基硅氧烷混合环体的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于以二甲基二氯硅烷为原料经盐酸水解、裂解所制得的二甲基硅氧烷混合环体。二甲基硅氧烷混合环体主要由六甲基环三硅氧烷、八甲基环四硅氧烷、十甲基环五硅氧烷及十二甲基环六硅氧烷组分（简称总环体）构成。 注：分子式 ［(CH3）2SiO］nn=3～6。

适用范围：本文件提供了在表面化学分析前生物材料样品的处理、安装和表面处理方法的指导。其目的是帮助分析人员了解在进行分析时，使用如下技术对特殊样品处理所需的条件： ——X射线光电子能谱(XPS)或化学分析电子能谱 (ESCA)； ——二次离子质谱 (SIMS)； ——俄歇电子能谱(AES)。 所提出的方法也适用于其他对表面组成分析灵敏的技术，如： ——衰减全反射傅里叶变换红外光谱 (ATR-FTIR)； ——全反射X射线荧光光谱(TXRF)； ——紫外光电子能谱 (UPS)。 本文件阐述了所用真空条件的影响和检测前后及植入前后的污染问题，以及在检测过程中与污染相关的问题。这里的生物材料包括硬质和软质，如金属、陶瓷、支架和聚合物。 本文件不包括诸如细胞、组织和生物体等活体生物材料。本文件中不涵盖的其他相关主题还包括电子显微镜或光学显微镜的样品制备。

适用范围：本文件规定了工业碳酸氢钠的分类、要求、试验方法、检验规则、标志和随行文件以及包装、运输、贮存。 本文件适用于以天然碱法、合成法和复分解法生产制得的工业碳酸氢钠。 注：该产品主要用于精细化工、日化、印染、鞣革、橡胶、冶金、环保、金属表面处理等行业。

适用范围：本文件规定了X射线光电子能谱(XPS)分析中，由X射线辐照导致试样元素组成或化学态的非预期性损伤的识别、评估和校正方法的要求。 本文件仅适用于X射线引起的非预期性损伤，导致光电子谱峰强度的降低或增加小于30%。本文件不涉及不同类型材料之间的比较，也不涉及发生损伤的机制、深度或化学性质。

适用范围：本文件描述了对材料薄膜进行协助表面分析的方法，这些薄膜不含有碳化合物作为预期成分，但在全扫描谱中观察到C 1s峰。这些薄膜可通过有氧或电化学氧化在金属和合金上生成，也可沉积在惰性基底上的。所述程序不适用于在基底上颗粒的不连续沉积。除此之外，还提供了一个可从含碳的表面污染物中识别C 1s信号的简单程序。当C 1s峰被确定为来自于外来的覆盖层时，从全谱中得出的成分可针对其影响进行校正。建议的程序以“如果-则”格式的简单规则结构形式所提供，目的是让它们所包含的信息可被数据系统中的自动化程序所利用。所提供的规则仅利用从XPS全扫描（谱）中检索的信息。

适用范围：本文件规定了用于生成打印目标的数字测试文件内容、打印机设置和打印程序的要求和建议，用于反射彩色摄影照片的图像稳定性测试方法标准和规范。 此外，本文件还规定了测试色块的测量程序，以及在给定的图像稳定性测试过程中如何计算颜色属性的变化。 对数据简化的统计程序的定义以及将这些变化转化为心理物理终点水平不属于本文件的范围，但使用本文件中定义的方法获得的结果能提供给其他文件中定义的打印材料寿命规范的适当统计评估和终点系统。

适用范围：本文件提供了使用适当的单层和多层参考物质优化溅射深度分析参数的指导和要求，以便优化俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱中的仪器设置，实现最佳深度分辨。 本文件不涵盖特殊多层膜系（例如δ掺杂层）的使用。

适用范围：本文件描述了在单离子计数飞行时间二次离子质谱仪中，通过测量基于聚四氟乙烯（PTFE）质谱中的同位素比值，从而确定强度标线性偏差可接受限的最大计数率的方法。本文件还包括校正强度非线性的方法，强度的非线性是由在死时间内到达微通道板（MCP）或闪烁体和光电倍增器随后进入时间数字转换器（TDC）的二次离子强度损失引起的。该校正可将95％线性的强度范围增加到50倍以上，因此对于那些已证实相关校正公式有效的质谱仪，可以采用更高的最大计数率。

适用范围：本文件给出了工业氯化钙分析方法的一般规定和外观检验，描述了工业氯化钙分析方法中氯化钙含量、碱度、总碱金属氯化物、水不溶物、硫酸盐、铁、总镁、pH的测定方法。 本文件适用于固体、溶液形式工业氯化钙产品。

适用范围：本文件描述了比较相同类型着色颜料(商定的参照颜料和试验样品)耐光性的通用试验方法。 本文件提供了两种曝晒方法。A法，颜料分散体样板在玻璃下曝露于自然光；B法，颜料分散体样板直接曝露于人造光源。 本文件适用于着色颜料。