适用范围：本文件规定了电子封装用高硅铝合金（硅添加量≥40%）中痕量杂质元素含量的测定方法。 本文件适用于电子封装用高硅铝合金（硅添加量≥40%）中痕量杂质元素含量的测定。测定范围覆盖除气体元素外的其他杂质元素，质量分数为0.1 /-500 /，且经标准样品校正后，可对样品进行准确的定量分析。 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 3.1 背景空白样品 3.2 质量校正标准样品 3.3 仪器检测器校正标准样品 3.4 ICE 3.5 半定量分析法 4 原理 5 试剂和材料 5.1 无水乙醇（ρ约0.789 g/mL），优级纯。 5.2 盐酸（ρ约1.19 g/mL），优级纯。 5.3 硝酸（ρ约1.42 g/mL），优级纯。 5.4 氢氟酸（ρ约1.19 g/mL），优级纯。 5.5 王水（1+3） 5.6 盐酸（1+1） 5.7 氩气 5.8 高硅铝合金标准物质 6 仪器设备 6.1 辉光放电质谱仪（GDMS） 6.2 制样加工设备 7 样品 7.1 试样具有均匀性和代表性 7.2 常规棒状或片状金属样品 8 试验步骤 8.1 仪器准备工作 8.2 测定 8.3 相对灵敏度因子的测定 8.4 样品测量 9 试验数据处理 10 精密度 11 检测报告

适用范围：主要技术内容:前言1  范围2  规范性引用文件3  术语和定义4  设备与人员要求5  样品处理及图谱采集6  数据处理与分析7  质量控制附录A（资料性）  基本原理参考文献

适用范围：范围:本文件规定了分子荧光光谱法测定石墨烯量子点蓝光发射相对荧光量子产率的术语和定义、测量原理、仪器、试剂和设备、样品的前处理、测量条件和步骤、数据处理和计算、不确定度来源分析和检测报告。 本文件适用于分子荧光光谱法表征石墨烯量子点蓝光发射相对荧光量子产率，石墨烯量子点的其他荧光发射带和其他纳米颗粒的发光性质表征（配合合适的荧光量子产率参考/标准物质）亦可参照执行; 主要技术内容:本文件规定了分子荧光光谱法测定石墨烯量子点蓝光发射相对荧光量子产率的术语和定义、测量原理、仪器、试剂和设备、样品的前处理、测量条件和步骤、数据处理和计算、不确定度来源分析和检测报告。本文件适用于分子荧光光谱法表征石墨烯量子点蓝光发射相对荧光量子产率，石墨烯量子点的其他荧光发射带和其他纳米颗粒的发光性质表征（配合合适的荧光量子产率参考/标准物质）亦可参照执行

适用范围：范围:本文件规定了紫外/可见分光光度法测定石墨烯量子点类酶活力的术语和定义、测量原理、仪器、试剂和设备、样品的前处理、测量条件和步骤、数据处理和计算、不确定度来源分析和检测报告。 本文件适用于紫外/可见分光光度法表征石墨烯量子点的类酶活力，底物为邻苯二胺，底物浓度为9.74 mmol?L-1。其他纳米颗粒类酶活力的表征亦可参照执行; 主要技术内容:本文件规定了紫外/可见分光光度法测定石墨烯量子点类酶活力的术语和定义、测量原理、仪器、试剂和设备、样品的前处理、测量条件和步骤、数据处理和计算、不确定度来源分析和检测报告。本文件适用于紫外/可见分光光度法表征石墨烯量子点的类酶活力，底物为邻苯二胺，底物浓度为9.74 mmol?L-1。其他纳米颗粒类酶活力的表征亦可参照执行