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  • T/SCASH 0010-2026 半导体设备用静电吸盘温度均匀性测试方法 即将实施
    译:T/SCASH 0010-2026 Test method for temperature uniformity of electrostatic suction cups used in semiconductor equipment
    适用范围:本文件适用于半导体制造领域中静电吸盘在真空环境下的温度均匀性测试。 本文件规定了半导体设备用静电吸盘真空条件下温度均匀性的测试原理、仪器设备、样品、测试方法、精密度
    【国际标准分类号(ICS)】 :17.200.99有关热力学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2026-09-19 | 实施时间: 2026-10-17