适用范围：本部分介绍在恒定电应力下（或在长期逐级电应力下的击穿电压），对从多组电气绝缘系统或代表绝缘系统模型的独立样本中获得的击穿时间数据进行分析的统计程序，包括用数字表示的例子。 本部分假设电气因子是起支配作用的老化因子。众所周知，有许多重要的老化因子，具体内容宜参考GB/Z 23756.1—2009。 除了作为其他长期影响因子的诊断参数外，本部分没有应用由短时电气击穿试验得来的数据。当使用短时击穿数据作为非电气影响因子的诊断参数时，应参考在第2部分中引入的其他合适的国家标准。 本部分的目的是指导系统测试程序的开发，并针对制定电气设备绝缘系统耐电寿命评定细则时需要考虑的问题提出几点建议。 GB/Z 23756.1介绍了耐电寿命的背景信息，提出在电气因子为老化的主要影响因子的情况下的测试程序，并提出当耐电老化试验数据服从正态（Gaussian）分布时的统计方法。 本部分提出试验数据不服从正态（Gaussian）分布而服从极值分布的统计方法。

适用范围：本标准规定了以下设备适用于电气绝缘系统（EIS）的热、电综合应力快速评定规程: ——供电电压1 000 V及以下（直流、交流、脉冲）的设备； ——使用绕线线圈模型：适用于变压器、扼流器、镇流器、电抗器、铁氧体逆变器等； ——正常情况下不经受振动的产品。 为测定热老化条件下的化学反应，模型应包含最终产品的所有组分。评定整个EIS的老化程序不允许修改。

适用范围：本标准适用于电气绝缘系统（EIS）承受上升时间不大于50 μs的重复冲击电压时发生局部放电（PD）的离线电气测量。 一般适用于电力电子设备供电的EIS,如电动机。 注1： 特定产品使用本标准时可要求其他规程的技术条件。 注2： 本标准中所述均为新兴技术,因此,经验和预防措施以及特定预处理条件也适用本标准。 下列测量方法除外： ——基于光纤或超声波的PD探测法； ——无重复冲击电压下的PD测量。

适用范围：本部分规定了用于评定包封散绕绕组EIS的包封线圈模型（ECM）。

适用范围：本部分适用于与电压等级无关的、以热应力为主要老化因子的包含固体和液体部件的电气绝缘系统。本部分不适用于瓷绝缘的电气绝缘系统。 本部分规定了电气绝缘系统热评定及鉴别的双重温度试验程序。

适用范围：GB/T 20111的本部分规定了在特殊电工产品不适用或不要求的场合所使用的散绕绕组电气绝缘系统（EIS）评定的通用模型（GPM）和深槽替代模型（GPMTC）。

适用范围：本部分为基础标准，适用于含有绝缘系统但不考虑电压高低的电气设备，该设备： ——与电子驱动电源连接，且 ——在重复电压脉冲条件下须进行绝缘老化的评定。 本部分提出了一个通用试验规程，用于筛选电气绝缘系统（EIS），及对重复脉冲条件下的绝缘老化进行相关评定。