• T/ICMTIA 5.2-2020 集成电路用ArF浸没式光刻胶 现行
    译:T/ICMTIA 5.2-2020 ArF immersion photomask for integrated circuits
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用ArF浸没式光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了ArF浸没式光刻胶的要求、试验方法、检测标准及包装、运输、存储
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • T/ICMTIA 5.3-2020 集成电路用ArF光刻胶光刻检测方法 现行
    译:T/ICMTIA 5.3-2020 The method of inspecting ArF photoresist used in integrated circuits using optical lithography
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用ArF光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了ArF光刻胶的光刻检测要求及方法、检测标准及包装、运输、存储及环保要求
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • T/ICMTIA 5.1-2020 集成电路用 ArF 干式光刻胶 现行
    译:T/ICMTIA 5.1-2020 ArF dry photoresist used in integrated circuits
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用 ArF 干式光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了 ArF 干式光刻胶的要求、试验方法、检测标准及包装、运输、存储要求
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • DB51/T 2004-2015 高纯氢氧化钠中硫酸盐的检测 离子色谱法 废止
    译:DB51/T 2004-2015 Detection of sulfates in high purity sodium hydroxide using ion chromatography
    适用范围:本标准规定了高纯氢氧化钠中硫酸盐的离子色谱检测方法。 本标准适用于高纯氢氧化钠中硫酸盐的测定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.30化学试剂 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-DB51)四川省地方标准 | 发布时间: 2015-07-08 | 实施时间: 2016-01-01
  • GB/T 30301-2013 高纯试剂试验方法通则 现行
    译:GB/T 30301-2013 General rule for test methods of highly purified reagents
    适用范围:本标准规定了高纯试剂试验方法中实验用水与试剂、器具与容器、器具与容器的清洗及保存、试验环境、样品溶液及标准溶液的配制和通用方法。 本标准适用于高纯有机试剂和高纯无机试剂(不包括纯度大于99.99%的高纯无机单质)试验方法的制(修)定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.30化学试剂 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-08-01