国际标准分类(ICS)
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译:YY/T 10006-2026 General technical requirements for cosmetic product standards适用范围:本文件确立了化妆品产品标准编写的分类原则,规定了产品标准内容的总体要求、要素及设置要求。 本文件适用于指导化妆品产品行业标准的编写。【国际标准分类号(ICS)】 :71.100.70美容品、化妆品 【中国标准分类号(CCS)】 :Y42化妆品发布单位或类别:(CN-YY)行业标准-医药 | 发布时间: 2026-08-21 | 实施时间: 2027-01-01收藏 -
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译:GB/T 47239.1-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 1:Bending test method for conductive thin films on flexible substrates适用范围:本文件描述了沉积或黏合在非导电柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法,以测量薄膜的机电性能或柔韧性。导电薄膜广泛应用于柔性半导体器件,是指沉积或黏合到非导电柔性基板上的薄膜,如金属薄膜、透明导电电极和硅薄膜等。由于薄膜-基板之间的界面黏附作用,柔性基板上的薄膜与独立的薄膜和基板机电特性不同。本文件的目的是确立用于评估柔性基板上导电薄膜机电性能或柔韧性的简单且可重复的试验方法。本文件中的弯曲试验方法包括外弯曲试验和内弯曲试验。【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:GB/Z 215-2026 Technical requirements for the preservation and restoration of analog magnetic audio-visual information适用范围:本文件确立了模拟磁性音像资料保护与修复的总体原则,规定了实体修复、数字化保护与修复,以及保存环境和条件等要求。 本文件适用于从事模拟磁性音像资料保护与修复工作的单位和专业机构,用于模拟磁性音像资料的物理修复、数字化转存与修复等抢救性保护工作。【国际标准分类号(ICS)】 :37.080文献成像象技术 【中国标准分类号(CCS)】 :A14图书馆、档案、文献与情报工作发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-27 | 实施时间: -收藏 -
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译:GB/T 47239.2-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 2:Evaluation method for electron mobility,sub-threshold swing,and threshold voltage of flexible devices适用范围:本文件界定了用于评价和确定柔性薄膜晶体管(TFT)器件性能特征的术语、定义和符号,描述了评价方法。本文件描述的评价方法和特征参数适用于准确评价柔性薄膜晶体管器件在实际弯曲状态下的性能和可靠性。【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:GA/T 2368-2026 Technical specifications for interconnection of high-definition video conference system for public security适用范围:本文件规定了公安高清视频会议系统互联技术要求,包括传输网络、协议及接口、互联功能、安全的技术要求和测试方法。 本文件适用于公安高清视频会议系统的方案设计、检测、验收及其相关的设备研发和生产。【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L60/69计算机发布单位或类别:(CN-GA)行业标准-公共安全 | 发布时间: 2026-01-09 | 实施时间: 2026-06-01收藏 -
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译:GB/T 48170-2026 Dynamic on-resistance test method guidelines for Gallium Nitride High Electron Mobility Transistor(GaN HEMT) based power conversion devices适用范围:本文件提供了测试横向型GaN HEMT动态导通电阻的方法指南,动态导通电阻测试主要用于评估GaN HEMT中电荷俘获现象,该测试方法能应用于以下情况: a) GaN增强型和耗尽型分立功率器件; b) GaN集成功率芯片; c) 上述对象的晶圆级或封装级样品。 提供的测试方法能用于GaN功率转换器中器件表征、产品测试、可靠性评估和应用场景验证。本文件不涉及动态导通电阻的基本原理及其在产品规格书中的符号表示。【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:GB/T 48168-2026 Semiconductor devices—Reliability test method by inductive load switching stress for gallium nitride(GaN) transistors适用范围:本文件描述了通过感性负载开关应力(特别是硬开关应力)评估氮化镓(GaN)功率晶体管可靠性的应力程序和相应试验方法。【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:T/BIAIM 0006-2025 Enterprise R&D and Manufacturing Resource Sharing Part 6: Software Component Resource Deployment【国际标准分类号(ICS)】 :35.080软件开发和系统文件 【中国标准分类号(CCS)】 :L77软件工程发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: - | 实施时间: -收藏 -
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译:GB/T 48076-2026 Nanotechnology—Carbon nanotube probe scanning microscopy—Measurement of high aspect ratio micro-nano structures适用范围:本文件描述了利用碳纳米管探针测量大深宽比微纳结构的方法,包括基本原理、测试条件和所需设备等,规定了碳纳米管探针的参数范围和对样品的要求,确立了测量步骤。 本文件适用于硬质样品,且深宽比范围在1~10,最小水平线宽不小于碳纳米管直径2倍的微纳结构测量,其他样品的测量参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :J04基础标准与通用方法发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:T/CABEE 132-2026【国际标准分类号(ICS)】 :91.060.10墙、隔墙、面墙 【中国标准分类号(CCS)】 :P32建筑构造与装饰工程发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2026-04-01 | 实施时间: 2026-06-01收藏
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