适用范围：本文件规定了数据交易服务安全要求，包括数据交易参与方、交易平台、交易标的及交易过程的安全要求。 本文件适用于数据供方、数据需方、数据交易机构、数据商、数据第三方专业服务机构规范其数据交易活动，也适用于监管部门、评估机构对数据交易服务安全进行监督、管理、评估。

适用范围：本文件描述了一种测量高密度集成电路单粒子效应(SEE)的试验方法，包括带存储的半导体器件在受到宇宙射线产生的大气中子辐照时的数据保持能力。通过已知注量率的中子辐照测量得到半导体器件的单粒子效应敏感性。该试验方法适用于任何种类集成电路。 注1： 高压半导体器件也会产生单粒子效应，包括单粒子烧毁(SEB)、单粒子栅穿(SEGR)等，本文件不包括此部分内容，请参考IEC 62396-4。 注2： 除高能中子外，能量小于1 eV的热中子也能导致部分器件产生软错误，本文件不包括此部分内容，请参考IEC 62396-5。

适用范围：本文件规定了基于极化码的低功耗无线通信网络的数据链路层技术要求和测试方法。 本文件适用于基于极化码的低功耗无线通信网络设备的开发。

适用范围：本文件描述了空腔半导体器件稳态加速度的试验方法。本试验的目的是检测那些不是一定要通过冲击和振动来检测的结构和机械类型的缺陷。它作为高应力（破坏性）试验来测定封装、内部金属化和引线系统、芯片或基板的焊接以及微电子器件其他构成部分的机械强度极限值。如果确定了适当的应力强度，本试验方法可用作生产线非破坏性的100%筛选试验，用以检测和剔除构成单元机械强度低于正常值的器件。 除另有规定外，本文件条款与IEC 60068-2-7一致。

适用范围：本文件规定了船舶低压电力系统绝缘故障定位装置的要求、检验规则、包装、运输和存储等技术要求，描述了相应的试验方法。 本文件适用于交流电压不超过1 000 V和直流电压不超过1 500 V的船舶中性点不接地（IT）系统的绝缘故障定位装置。

适用范围：本文件描述了带存储的半导体器件工作在高能粒子环境下(如阿尔法辐射)的软错误敏感性的试验方法。本文件包含了两种试验方法，分别为利用阿尔法粒子辐射源的加速试验和自然辐射环境下(如阿尔法粒子或中子)导致错误的(非加速)实时系统试验。 为了全面表征带存储半导体器件的软错误特性，还需要依照其他试验方法开展宽能谱高能中子和热中子试验。 本试验方法适用于所有带存储的半导体器件。

适用范围：本文件规定了压铸镁合金锭的牌号、代号、技术要求、试验方法、检验规则及标志、质量证明文件、包装、运输和贮存。 本文件适用于压铸镁合金锭的生产与检验，镁合金颗粒参照执行。

适用范围：本文件描述了锌合金压铸件金相检验试样的选取与制备、检验方法、检验项目和检验报告。 本文件适用于锌合金压铸件金相检验试样的组织类型、初生相体积百分数和大小的检验。

适用范围：本文件规定了照明设施经济运行的技术要求、评价方法与评价要求。 本文件适用于新建和改造照明设施的设计、选型、安装、调试与验证、运行控制、管理维护以及运行评价等。

适用范围：无偏置高压蒸煮试验是利用潮气冷凝或饱和蒸汽来评价非气密封装固态器件的耐湿性。本试验为强加速试验，在冷凝条件下通过压力、湿度和温度加速潮气穿透外部保护材料（包封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面。 本文件适用于确认封装内部失效机理，为破坏性试验。