国际标准分类(ICS)
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译:GB/T 48133-2026 Green exploration specifications for solid mineral resources适用范围:本文件规定了固体矿产绿色勘查工作的设计、驻地建设与管理、道路修建、勘查施工、场地恢复、工作检查与验收、工作总结编写与资料归档。 本文件适用于固体矿产勘查的各阶段工作。【国际标准分类号(ICS)】 :07.060地质学、气象学、水文学 【中国标准分类号(CCS)】 :D01技术管理发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2026-10-01收藏 -
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译:GB/T 48168-2026 Semiconductor devices—Reliability test method by inductive load switching stress for gallium nitride(GaN) transistors适用范围:本文件描述了通过感性负载开关应力(特别是硬开关应力)评估氮化镓(GaN)功率晶体管可靠性的应力程序和相应试验方法。【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:GB/T 48076-2026 Nanotechnology—Carbon nanotube probe scanning microscopy—Measurement of high aspect ratio micro-nano structures适用范围:本文件描述了利用碳纳米管探针测量大深宽比微纳结构的方法,包括基本原理、测试条件和所需设备等,规定了碳纳米管探针的参数范围和对样品的要求,确立了测量步骤。 本文件适用于硬质样品,且深宽比范围在1~10,最小水平线宽不小于碳纳米管直径2倍的微纳结构测量,其他样品的测量参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :J04基础标准与通用方法发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:GB/T 47239.1-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 1:Bending test method for conductive thin films on flexible substrates适用范围:本文件描述了沉积或黏合在非导电柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法,以测量薄膜的机电性能或柔韧性。导电薄膜广泛应用于柔性半导体器件,是指沉积或黏合到非导电柔性基板上的薄膜,如金属薄膜、透明导电电极和硅薄膜等。由于薄膜-基板之间的界面黏附作用,柔性基板上的薄膜与独立的薄膜和基板机电特性不同。本文件的目的是确立用于评估柔性基板上导电薄膜机电性能或柔韧性的简单且可重复的试验方法。本文件中的弯曲试验方法包括外弯曲试验和内弯曲试验。【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:GB/Z 215-2026 Technical requirements for the preservation and restoration of analog magnetic audio-visual information适用范围:本文件确立了模拟磁性音像资料保护与修复的总体原则,规定了实体修复、数字化保护与修复,以及保存环境和条件等要求。 本文件适用于从事模拟磁性音像资料保护与修复工作的单位和专业机构,用于模拟磁性音像资料的物理修复、数字化转存与修复等抢救性保护工作。【国际标准分类号(ICS)】 :37.080文献成像象技术 【中国标准分类号(CCS)】 :A14图书馆、档案、文献与情报工作发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-27 | 实施时间: -收藏 -
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译:JJF 2028.2-2026 Calibration Specification for Measuring Systems of Impulse Voltage and Impulse Current—Part 2:Impulse Voltage Measuring Systems适用范围:本规范适用于额定电压1 kV及以上,测量雷电冲击电压、波尾截断的雷电冲击截波电压、操作冲击电压的冲击电压测量系统的校准。【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无发布单位或类别:(CN-JJF)国家计量技术规范JJF | 发布时间: 2026-08-21 | 实施时间: 2027-02-21收藏 -
现行
译:GB/Z 259-2026 Biomimetics—Image search engine适用范围:本文件描述了图像搜索引擎(ISE)的原型,重点关注ISE 的使用方法和价值,也描述了其设计原则。【国际标准分类号(ICS)】 :07.080生物学、植物学、动物学 【中国标准分类号(CCS)】 :A40/49基础学科发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-27 | 实施时间: -收藏 -
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译:GB/T 14019-2026 Vocabulary for wood preservation适用范围:本文件界定了木材基础术语以及木材劣化、木材防腐剂、木材防腐处理工艺、防腐木材及其质量检测、木材阻燃等相关术语和定义。 本文件适用于针、阔叶树圆材(包括原木、电杆、坑木、柱材等)、锯材(包括板材、方材、枕木、木结构用材等)、木基复合材料以及其他木制品在使用前和使用中的木材防腐、木材阻燃相关领域。竹材、藤材等参照使用。【国际标准分类号(ICS)】 :79.020木材加工技术 【中国标准分类号(CCS)】 :B60/79林业发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:GB/T 47239.2-2026 Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 2:Evaluation method for electron mobility,sub-threshold swing,and threshold voltage of flexible devices适用范围:本文件界定了用于评价和确定柔性薄膜晶体管(TFT)器件性能特征的术语、定义和符号,描述了评价方法。本文件描述的评价方法和特征参数适用于准确评价柔性薄膜晶体管器件在实际弯曲状态下的性能和可靠性。【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.99其他半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏 -
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译:GB/T 48170-2026 Dynamic on-resistance test method guidelines for Gallium Nitride High Electron Mobility Transistor(GaN HEMT) based power conversion devices适用范围:本文件提供了测试横向型GaN HEMT动态导通电阻的方法指南,动态导通电阻测试主要用于评估GaN HEMT中电荷俘获现象,该测试方法能应用于以下情况: a) GaN增强型和耗尽型分立功率器件; b) GaN集成功率芯片; c) 上述对象的晶圆级或封装级样品。 提供的测试方法能用于GaN功率转换器中器件表征、产品测试、可靠性评估和应用场景验证。本文件不涉及动态导通电阻的基本原理及其在产品规格书中的符号表示。【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2026-08-28 | 实施时间: 2027-03-01收藏
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