GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构测定方法
GB/T 5594.8-2015 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8:Test method for microstructure
国家标准
中文简体
现行
页数：6页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2015-05-15
实施日期
2016-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
中国电子技术标准化研究院
适用范围
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
发布历史
-
1985年11月
-
2015年05月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司
- 起草人：
- 江树儒、曹易、高永泉、翟文斌
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：12 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS31-030
L90
中华人民共和国国家标准
/—
GBT5594.82015
代替/—
GBT5594.81985
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
:
第部分显微结构测定方法
8
Testmethodsforroertiesofstructureceramic
pp
—
usedinelectroniccomonentsanddevice
p
:
Part8Testmethodformicrostructure
2015-05-15发布2016-01-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
中华人民共和国
国家标准
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
:
第部分显微结构测定方法
8
/—
GBT5594.82015
*
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲号()
2100029
北京市西城区三里河北街号()
16100045
网址:
g
服务热线:
400-168-0010
010-68522006
年月第一版
20154
*
书号:·
155066
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