GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法
GB/T 5594.4-2015 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic component and device—Part 4:Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
国家标准
中文简体
现行
页数：8页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2015-05-15
实施日期
2016-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
中国电子技术标准化研究院
适用范围
GB/T 5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz ，温度从室温至500 ℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
发布历史
-
1985年11月
-
2015年05月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、北京七星飞行电子有限公司
- 起草人：
- 曾桂生、李晓英、薛晓梅
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：14 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS31-030
L90
中华人民共和国国家标准
/—
GBT5594.42015
代替/—
GBT5594.41985
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
:
第部分介电常数和介质损耗角
4
正切值测试方法
Testmethodsforroertiesofstructureceramicusedinelectronic
pp
—:
comonentanddevicePart4Testmethodforermittivitand
ppy
dielectriclossanletanentvalue
gg
2015-05-15发布2016-01-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
/—
GBT5594.42015
前言
/《》:
GBT5594电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法分为以下部分
———气密性测试方法(/);
GBT5594.1
———杨氏弹性模量泊松比测试方法(/);
GBT5594.2
———:(/);
第部分平均线膨胀系数测试方法
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