GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.3-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for mean coefficient of linear expansion
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1985-11-27
实施日期
1986-12-01
发布单位/组织
国家标准局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1985年11月
-
2015年05月
研制信息
- 起草单位:
- 电子工业部12研究所
- 起草人:
- 李蓝瑞
- 出版信息:
- 页数:3页 | 字数:4 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- XB/T 513-2020 超细氧化镝粉 2020-12-09
- XB/T 515-2020 钪铝合金靶材 2020-12-09
- XB/T 511-2020 热喷涂用氧化钇粉末 2020-12-09
- XB/T 628-2020 高纯稀土金属化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 2020-12-09
- XB/T 233-2020 镧铈氧化物 2020-12-09
- XB/T 303-2020 高纯金属镱 2020-12-09
- XB/T 512-2020 镝、铽金属靶材 2020-12-09
- XB/T 222-2020 氢氧化铈 2020-12-09
- XB/T 625-2020 稀土复合钇锆陶瓷材料化学分析方法 氧化钛、氧化铝、氧化钠和氧化铁含量的测定 2020-12-09
- XB/T 514-2020 钪稳定氧化锆复合粉 2020-12-09